Вышедшие номера
Исследование колебаний решетки полупроводников II--VI, легированных 3d-элементами, методом комбинационного рассеяния света
Соколов В.И.1, Fillaux F.2, Romain F.2, Lemmens P.3, Груздев Н.Б.1
1Institute of Metal Physics, Russian Academy of Sciences Ural Branch, Ekaterinburg, Russia
2Universite P. & M. Curie, LADIR--CNRS--URM Thiais, France
3MPI for Solid State Research, MPI--FKF Stuttgart, Germany
Email: visokolov@imp.uran.ru
Выставление онлайн: 20 июля 2005 г.

Получены спектры комбинационного рассеяния при комнатной температуре для порошкообразных образцов соединений Zn1-xNixSe, Zn1-yCrySe и для монокристаллического образца соединения Zn1-xNixSe (x=0.0025) в диапазоне температур 5-140 K. Результаты интерпретируются с точки зрения крупномасштабных сдвиговых искажений решетки, индуцированных 3d-элементами в этих твердых растворах. Работа выполнена при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследования (грант N 04-02-96094-p2004урал_а).