Параметры вюрцитных кристаллов нитрида галлия, легированных тулием
Криволапчук В.В.1, Кожанова Ю.В.2, Лундин В.В.1, Мездрогина М.М.1, Родин С.Н.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
Email: vlad.krivol@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 26 июля 2004 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2005 г.
Исследовались кристаллы GaN, полученные методами МОС-гидридного и газофазного эпитаксиального роста в открытой хлоридной системе. Тулий вводился с помощью диффузии. Показано, что в полупроводниковой матрице GaN редкоземельный ион Tm играет роль акцептора при наличии в нелегированных кристаллах дефектов, образующих глубокие уровни. Наблюдались внутрицентровые f-f-переходы, характерные для Tm в коротковолновой и длинноволновой областях спектра. Интенсивность излучения в коротковолновой области спектра больше в кристаллах, полученных методом газофазного эпитаксиального роста в открытой хлоридной системе. Работа выполнена при поддержке программы Президиума РАН "Низкоразмерные квантовые структуры".
- X.A. Cao, S.F. Leboeuf, L.B. Rowland. Appl. Phys. Lett. 82, 21, 3614 (2003)
- S. Martini, A.A. Quivy, M.J. da Silve, E. Abramoff. J. Appl. Phys. 99, 11, 7050 (2003)
- В.В. Криволапчук, М.М. Мездрогина, А.В. Насонов, С.Н. Родин. ФТТ 45, 1556 (2003)
- В.В. Криволапчук, В.В. Лундин, М.М. Мездрогина, А.В. Насонов, С.Н. Родин, Н.М. Шмидт. ФТТ 46, 5, 814 (2004)
- M. Pan, A.J. Steckl. Appl. Phys. Lett. 82, 1, 9 (2003)
- V. Kirlyuk, A.R. Zanner, P.C. Christianen, J.R. Wayher, P.R. Hageman, P.K. Lansen. Appl. Phys. Lett. 84, 17, 2355 (2004)
- А.Н. Георгибиани, А.Н. Грузинцев, М.О. Воробьев, У. Кайзер, В. Рихтер, И.И. Ходес. ФТП 35, 725 (2001)
- В.В. Криволапчук, М.М. Мездрогина. ФТТ 46, 12, 2129 (2004)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.