Комбинированные фотоотражательные/фотолюминесцентные измерения для исследования электронных свойств поверхностей полупроводников
Кузьменко Р.В.1, Ганжа А.В.1, Домашевская Э.П.1, Хильдебрандт С.2, Шрайбер Й.2
1Воронежский государственный университет, Воронеж, Россия
2Fachbereich Physik der Martin--Luther--Universitat Halle-Wettenberg, Halle/Saale, Deutschland
Поступила в редакцию: 23 марта 2000 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2000 г.
Для исследования электронных свойств поверхности полупроводника предлагается методика комбинированных фотоотражательных/фотолюминесцентных измерений. Эффективность методики демонстрируется на примере изучения роста и деградации сигнала люминесценции пассивированных селеном подложек GaAs под действием постоянного лазерного возбуждения.
- Б.И. Сысоев, В.Ф. Антюхин, В.Д. Стрыгин, В.Н. Моргунов. ЖТФ 56, 913 (1986)
- R.B. Darling. Phys. Rev. B45, 4071 (1991)
- M.Y.A. Raja, S.R.J. Brueck, M. Osinski, J. McInerney. Appl. Phys. Lett. 52, 625 (1988)
- T. Suzuki, M. Ogawa. Appl. Phys. Lett. 34, 473 (1977)
- N.M. Haegel, A. Winnacker. Appl. Phys. A42, 233 (1987)
- D. Guidotti, E. Hasan, H.-J. Hovel, M. Albert. Appl. Phys. Lett. 50, 912 (1987)
- J. Ogawa, K. Tamamura, K. Akimoto, Y. Mory. Appl. Phys. Lett. 51, 1949 (1987)
- D. Guidotti, E. Hasan, H.-J. Hovel, M. Albert. IL Nuovo Cimento 11, 583 (1989)
- W. Hergert, S. Hildebrandt, L. Pasemann. Phys. Stat. Sol. (a) 102, 819 (1987)
- N. Bottka, D.K. Gaskill, R.S. Sillmon, R. Henry, R. Glosser. J. Electronic Mater. 17, 161 (1988)
- D.E. Aspnes. Surf. Sci. 37, 418 (1973)
- D.E. Aspnes. Phys. Rev. B10, 4228 (1974)
- D.E. Aspnes, A.A. Studna. Phys. Rev. B7, 4605 (1973)
- J. Schreiber, S. Hildebrandt, W. Kircher, T. Richter. Mater. Sci. Eng. B9, 31 (1991)
- Б.И. Сысоев, Н.Н. Безрядин, Г.И. Котов, В.Д. Стрыгин. ФТП 27, 131 (1993)
- Н.Н. Безрядин, Э.П. Домашевская, И.Н. Арсентьев, Г.И. Котов, Р.В. Кузьменко, М.П. Сумец. ФТП 33, 719 (1999)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.