Фотоэлектрические свойства и электролюминесценция p-i-n-диодов на основе гетероструктур с самоорганизованными нанокластерами GeSi/Si
Максимов Г.А.1, Красильник З.Ф.2, Филатов Д.О.1, Круглова М.В.1, Морозов С.В.2, Ремизов Д.Ю.2, Николичев Д.Е.1, Шенгуров В.Г.1
1Научно-образовательный центр "Физика твердотельных наноструктур" Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
2Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Email: Filatov@phys.unn.ru
Выставление онлайн: 20 декабря 2004 г.
Исследованы фотоэлектрические свойства и электролюминесценция p-i-n-диодов на основе гетероструктур GeSi/Si с нанокластерами GeSi в i-области, выращенных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии с газофазным источником Ge. В спектрах фотоэдс p-i-n-диодов (300 K) наблюдалась полоса фоточувствительности, связанная с межзонными переходами в нанокластерах GeSi. Разработан подход к анализу спектров фоточувствительности в структурах, содержащих тонкие слои GeSi, и определена энергия края полос фоточувствительности, связанных с этими слоями. Наблюдалась электролюминесценция при 77 K, обусловленная излучательными межзонными переходами в кластерах GeSi. Работа выполнена при поддержке совместной Российско-американской программы Министерства образования РФ и Американского фонда гражданских исследований и развития (CRDF) "Фундаментальное исследование и высшее образование" (REC-NN-001), Российского фонда фундаментальных исследований (N 03-02-17085) и Министерства образования РФ (N E02-3.4-238 и A03-2.9-473).
- З.Ф. Красильник, А.В. Новиков. УФН 170, 3 (2000)
- G. Abstreiter, P. Schittenhelm, C. Engel, E. Silveira, A. Zrenner, D. Meertens, W. Jager. Semicond. Sci Technol. 11, 1525 (1996)
- О.П. Пчеляков, Ю.Б. Болховитянов, А.В. Двуреченский, Л.В. Соколов, А.И. Никифоров, А.И. Якимов, Б. Фойхтлендер. ФТП 34, 11 (2000)
- С.П. Светлов, В.Г. Шенгуров, В.Ю. Чалков, З.Ф. Красильник, Б.А. Андреев, Ю.Н. Дроздов. Изв. РАН. Сер. физ. 65, 2, 204 (2001)
- Л.П. Павлов. Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов. Высш. шк., М. (1975). С. 112
- В.П. Грибковский. Теория поглощения и испускания света в полупроводниках. Наука и техника, Минск (1975). С. 86
- В.Я. Алешкин, Н.А. Бекин. ФТП 31, 171 (1997)
- M. Stoffel, U. Denker, O.G. Schmidt. Appl. Phys. Lett. 82, 3236 (2003)
- R. Apetz, L. Vescan, C. Dieker, H. Luth. Appl. Phys. Lett. 66, 445 (1995)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.