Издателям
Вышедшие номера
Секционные изображения дислокаций, перпендикулярных поверхности монокристаллов 6H-SiC
Окунев А.О.1, Данильчук Л.Н.1, Ткаль В.А.1
1Новгородский государственный университет им. Ярослава Мудрого, Великий Новгород, Россия
Email: oao@novsu.ac.ru
Поступила в редакцию: 27 февраля 2006 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2006 г.

Получены и интерпретированы секционные топограммы краевых и винтовых дислокаций с осью [0001] в 6H-SiC, дано объяснение формированию изображений в этом случае. Экспериментально исследованы особенности контраста при различном расположении дислокаций в пределах треугольника Бормана. Показано, что по изображению на секционной топограмме краевой и винтовой дислокаций, перпендикулярных поверхности кристалла, однозначно определяется знак вектора Бюргерса. Определение знака вектора Бюргерса винтовой дислокации возможно также по ее изображению, полученному методом проекционной топографии Ланга. Выявлен вклад дальнего поля деформаций в секционные изображения краевых и винтовых дислокаций, перпендикулярных поверхности кристалла. Проведено сопоставление экспериментального контраста, полученного методами секционной топографии и топографии на основе эффекта Бормана. Работа поддержана РФФИ (грант N 06-02-16230-a). PACS: 61.72.Ff, 61.72.Dd, 61.72.Lk
  • E.V. Suvorov, V.I. Polovinkina, V.I. Nikitenko, V.L. Indenbom. Phys. Stat. Sol. (a) 26, 385 (1974)
  • Э.В. Суворов. Физические основы современных методов исследования реальной структуры кристаллов. Черноголовка (1999). 232 с
  • Э.В. Суворов, И.А. Смирнов, Е.В. Шулаков. Поверхность 4, 100 (2004)
  • В. Суворов, И.А. Смирнов, Е.В. Шулаков. Поверхность 9, 64 (2004)
  • Л.Н. Данильчук, А.О. Окунев, В.Е. Удальцов, Е.Н. Потапов, В.А. Ткаль. Сб. докл. нац. конф. по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов. Т. 3. М.-Дубна (1997). С. 177
  • Л.Н. Данильчук, Ю.А. Дроздов, А.О. Окунев, В.А. Ткаль, И.Л. Шульпина. Завод. лаб. 68, 24 (2002)
  • Ю.А. Дроздов, А.О. Окунев, В.А. Ткаль, И.Л. Шульпина. Завод. лаб. 69, 24 (2003)
  • А.О. Окунев, И.Л. Шульпина, Л.Н. Данильчук, В.А. Ткаль, Ю.А. Дроздов. Тез. докл. второго науч. семинара "Современные методы анализа дифракционных данных (рентгенотопография, дифрактометрия, электронная микроскопия)". Великий Новгород (2004). С. 97
  • А.О. Окунев, Л.Н. Данильчук, В.А. Ткаль, Ю.А. Дроздов. Материалы 2-й Украинской научной конференции по физике полупроводников. Т. 2. Рута, Черновцы (2004). С. 403
  • А.О. Окунев, И.Л. Шульпина. Письма в ЖТФ. 31, 1 (2005)
  • V.L. Indenbom, V.I. Nikitenko, E.V. Suvorov, V.M. Kaganer. Phys. Stat. Sol. (a) 46, 379 (1978)
  • А.О. Окунев, В.А. Ткаль, Ю.А. Дроздов, Л.Н. Данильчук. Поверхность 9, 58 (2004)
  • A. Authier. Dynamical theory of X-ray diffraction. University Press, Oxford (2004). 674 p
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.