Вышедшие номера
Воздействие импульсного лазерного излучения на реальную структуру монокристаллов CdTe
Шульпина И.Л.1, Зеленина Н.К.1, Матвеев О.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 19 июня 1997 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 1997 г.

Метод обратного отражения рентгеновской дифракционной топографии использовался для изучения изменений реальной структуры поверхностного слоя монокристаллов CdTe в результате воздействия импульсного излучения рубинового и неодимового лазеров. Обнаружено, что структурные изменения зависят главным образом, от мощности излучения, от присутствия легирующей примеси, а также от ориентации и формы поверхности образца. Обсуждаются три ярко выраженных эффекта: интегральное улучшение реальной структуры поверхностного слоя, периодический рельеф поверхности кристаллов и ячеистая двойниковая структура.
  1. T. Tokuayama. In: Laser and Electron Beam Processing of Materials / Ed. C.W. White and P.S. Peercy. Academic Press, N. Y. (1980). P. 608
  2. C.An, H. Tews, G. Cohen-Solal. J. Cryst. Growth 59, 1, 289 (1982)
  3. J. Narayan. In: Laser and Electron Beam Processing of Materials / Ed. C.W. White and P.S. Peercy. Academic Press, N. Y. (1980). P. 397
  4. M. von Allmen, S.S. Lau. In: Laser and Electron Beam Processing of Materials / Ed. C.W. White and P.S. Peercy. Academic Press. N. Y. (1980). P. 524
  5. А.Т. Акобирова, О.А. Матвеев, С.М. Рывкин, А.Х. Хусаинов. ФТП 10, 11, 2127 (1976)
  6. A.R. Lang. In: Difraction and Microscopic Methods in Material Science (in Russian). Metallurgiya, M. (1984). P. 364
  7. И.Л. Шульпина. Кристаллография 39, 2, 270 (1994)
  8. И.Л. Шульпина, Т.С. Аргунова, В.В. Ратников. ЖТФ 65, 4, 180 (1995)
  9. I.L. Shulpina, T.S. Argunova. J. Phys. D: Appl. Phys. 28, A47 (1995)
  10. R.O. Bell, M. Toulermonde, P. Siffert. J. Appl. Phys. 19, 313 (1979)
  11. О.А. Матвеев, Д.В. Нахабцев. А.С. N 1431391 от 15.06.1988
  12. J. Shen, D.K. Aidun, L.L. Regel, W.R. Wilcox. J. Cryst. Growth 132, 1, 250 (1993)
  13. С.С. Горелик, М.Я. Дашевский. Материаловедение полупроводников и диэлектриков. Металлургия, М. (1988). С. 574
  14. Ф.Х. Мирзоев, В.Я. Панченко, Л.А. Шелепин. УФН 166, 1, 3 (1996)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.