Релаксация проводимости CsI--T l после возбуждения субнаносекундными импульсами электронов
Адуев Б.П.1, Швайко В.Н.1
1Кемеровский государственный университет, Кемерово, Россия
Поступила в редакцию: 9 июня 1997 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 1997 г.
Исследована импульсная проводимость кристалла CsI-Tl с концентрацией Tl+ N=8·1017 cm-3 при возбуждении электронным пучком (0.2 MeV, 50 ps, 102-104 A/cm2). Показано, что амплитуда импульса тока проводимости падает почти на порядок по сравнению с "чистыми" кристаллами CsI, облучаемыми в аналогичных условиях. При этом сокращается время релаксации тока проводимости до tau=100 ps. Следовательно, в условиях эксперимента, время жизни электронов в зоне проводимости контролируется захватом на Tl+-центры. Определено сечение захвата электрона Tl+-центром sigma=7·10-16 cm2, что по порядку величины совпадает с оценками для сечения захвата на нейтральный центр.
- Б.П. Адуев, Г.М. Белокуров, В.Н. Швайко. ФТТ 37, 8, 2537 (1995)
- Б.П. Адуев, А.В. Иголинский, В.Н. Швайко. ФТТ 38, 3, 947 (1996)
- Э.Д. Алукер, Р.Г. Дейч, Г.С. Думбадзе. Письма в ЖТФ 23, 4, 2132 (1988)
- Э.Д. Алукер, Р.Г. Дейч, Г.С. Думбадзе. Изв. АН ЛатвССР. Сер. физ. и техн. наук 17, 4 (1987)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.