Сравнительное изучение с помощью просвечивающей электронной микроскопии трехмерной решетки из нанокластеров теллура, полученной различными способами в опаловой матрице
Богомолов В.Н.1, Сорокин Л.М.1, Курдюков Д.А.1, Павлова Т.М.1, Хатчисон Дж.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1, 3PH, UK
Поступила в редакцию: 9 июня 1997 г.
Выставление онлайн: 20 октября 1997 г.
Проведено электронно-микроскопическое изучение синтетических опалов, в регулярно расположенные пустоты которых введен теллур либо из расплава под давлением, либо из раствора. В первом случае выявлена трехмерная решетка из связанных друг с другом через мостики кластеров теллура. При переходе от одного к другому они сохраняют одну и ту же кристаллографическую ориентацию. Эти данные свидетельствуют о том, что при охлаждении объекта после введения теллура происходит его направленная кристаллизация, которая контролируется, возможно, каналами между кластерами. При втором способе введения теллура образуется неоднородная кластерная решетка: объемные кластеры вырастают не во всех пустотах. Поверхность большинства силикатных сфер покрыта тонким несплошным слоем теллура. Такая структура кластерной решетки обеспечивает нелинейную вольт-амперную характеристику объекта в целом. Продемонстрирована принципиальная возможность инженерии кластерных решеток, отличающихся структурными параметрами.
- В.Г. Балакирев, В.Н. Богомолов, В.В. Журавлев, Ю.А. Кумзеров, В.П. Петрановский, С.Г. Романов, Л.А. Самойлович. Кристаллография 38, 3, 111 (1993)
- В.Н. Богомолов, Т.М. Павлова. ФТП 29, 5, 826 (1995)
- В.Н. Богомолов, С.А. Ктиторов, Д.А. Курдюков, А.В. Прокофьев, С.М. Самойлович, Д.В. Смирнов. Письма в ЖЭТФ 61, 9, 738 (1995)
- W. Stober, A. Fink, E. Bohn. J. Colloid Interface Sci. 26, 62 (1968)
- В.Н. Богомолов, Д.А. Курдюков, А.В. Прокофьев, С.М. Самойлович. Письма в ЖЭТФ 63, 7, 496 (1996)
- V.N. Bogomolov, J.L. Hutchison, G.N. Mosina, L.M. Sorokin. Abstracts of invited lectures and contributed papers. Nanostructures: Physics and Technology. Int. Symposium. St.Petersburg, Russia (24--28 June 1996). Publish. St. P. INP RAS (1996). 125 с
- А. Гинье. Рентгенография кристаллов / Пер. под ред. акад. Н.В. Белова. Изд-во физ.-мат. лит., М. (1961). С. 584
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
