Вышедшие номера
Влияние разогрева электронной подсистемы на термическую устойчивость фуллеренов C60, C20 и кластерной молекулы (C20)2
Давыдов И.В.1
1Московский инженерно-физический институт (Государственный университет), Москва, Россия
Email: div69@yandex.ru
Поступила в редакцию: 28 июня 2006 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2007 г.

Теоретически изучено влияние разогрева электронной подсистемы на термическую устойчивость фуллеренов C60 и C20, а также кластерной молекулы (C20)2. Показано, что возбуждение электронов на верхние энергетические уровни в соответствии с функцией распределения Ферми-Дирака не приводит к существенному изменению величины энергии активации распада Ea фуллерена C20. Устойчивость фуллерена C60 и кластерной молекулы (C20)2 также принципиально не изменяется. В то же время учет поправок, связанных с конечными размерами теплового резервуара, приводит к значению Ea, которое лучше согласуется с результатами расчета высоты потенциального барьера, препятствующего распаду кластера. Работа выполнена в рамках гранта CRDF "НОЦ фундаментальных исследований материи в экстремальных состояниях". PACS: 36.40.Qv, 61.48.+c, 71.15.Pd