Обнаружено влияние среды D₂O и Н₂O на плотность дислокаций в поверхностном слое кристаллов LiF при их деформации в указанных средах в сравнении со средой вакуума, где это влияние отсутствует. Характер изменения величин плотностей дислокаций оказался различным для краевых и винтовых полос скольжения и зависит от типа среды. Установлено качественное соответствие между изменением микротвердости, плотности дислокаций и концентрации молекул D₂O в поверхностном слое кристаллов. Полученные данные объясняются на основе явления дислокационно-динамической диффузии примесей в деформируемый кристалл из внешней среды.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.