Для оценки глубины выхода носителей заряда на поверхность твердого тела в работе исследовано влияние степени дисперсности на объемную радиолюминесценцию щелочно-галоидных кристаллофосфоров. Полученные результаты позволяют оценить глубину выхода носителей заряда на поверхность, которая оказывается порядка 10 мкм. Наиболее вероятным механизмом миграции носителей заряда к поверхности, обеспечивающим такие значительные глубины выхода, является дрейф к поверхности в поле объемного заряда, формируемого облучением.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.