Издателям
Вышедшие номера
Немонотонные размерные зависимости работы выхода нанопленок иттербия, осаждаемых на поверхность Si(111)7x 7 при комнатной температуре
Кузьмин М.В.1, Логинов М.В.1, Митцев М.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: M.Mittsev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 14 июня 2007 г.
Выставление онлайн: 20 января 2008 г.

Изучены зависимости работы выхода нанопленок иттербия от их толщины. Пленки наносились при комнатной температуре на поверхность Si(111)7x 7 кремниевых образцов с различным уровнем легирования и типом проводимости (n- и p-типа). Показано, что зависимости носят ярко выраженный немонотонный характер, не зависящий от типа используемого кремния. Установлено, что амплитуда немонотонных изменений работы выхода связана с микрошероховатостью поверхности наносимых слоев: более гладким пленкам соответствуют большие амплитуды. Изучены изменения работы выхода пленок, вызываемые наносимыми на их поверхность электроотрицательными атомами Si. Выяснено, что знак изменения зависит от толщины пленок. Такой необычный на первый взгляд факт обусловлен в конечном счете тем, что распределение электронной плотности на границе раздела металлическая пленка--вакуум немонотонно зависит от количества осажденного иттербия. Эта немонотонность является проявлением стоячих волн электронной плотности (осцилляции Фриделя), генерируемых в пленках границей раздела иттербий--кремний. Работа выполнена при поддержке Санкт-Петербургского научного центра РАН. PACS: 73.30.+y, 61.14.Hg, 79.20.Fv
  • H.-R. Tang, W.-W. Wang, K.-N. Fan. Chem. Phys. Lett. 355, 410 (2002)
  • Д.В. Бутурович, М.В. Кузьмин, М.В. Логинов, М.А. Митцев. ФТТ 48, 2085 (2006)
  • М.В. Кузьмин, М.В. Логинов, М.А. Митцев, Т.В. Крачино. ФТТ 37, 1030 (1995)
  • Т.В. Крачино, М.В. Кузьмин, М.В. Логинов, М.А. Митцев. ФТТ 39, 256 (1997)
  • Handbook on semiconductors. V. 2. Optical properties of semiconductors / Ed. M. Balkanski. Elsevier. North-Holland, Amsterdam (1994). 857 p
  • Д. Вудраф, Т. Делчар. Современные методы исследования поверхности / Пер. с англ. Мир, М. (1989). 568 с
  • F.K. Schulte. Surf. Sci. 55, 427 (1976)
  • P.J. Feibelman. Phys. Rev. B 27, 1991 (1983)
  • P.J. Feibelman, D.R. Haman. Phys. Rev. B 29, 6463 (1986)
  • J.C. Doettger. Phys. Rev. B 53, 13 133 (1996)
  • A. Kieina, J. Peisert, P. Scharoch. Surf. Sci. 432, 54 (1999)
  • J.J. Pagel, C.M. Wei, M.Y. Chou, D.-A. Luh, T. Miller, T.-C. Chiang. Phys. Rev. B 66, 233 403 (2002)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.