Вышедшие номера
Исследование характеристик скользящего разряда по поверхности титаната бария
Российский научный фонд, 23-29-00455
Степанов А.В. 1, Конусов Ф.В. 1, Павлов С.К. 1, Тарбоков В.А. 1, Серебренников М.А. 1
1Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Томск, Россия
Email: stepanovav@tpu.ru, konusov@tpu.ru, quezze@tpu.ru, tarbokovv@tpu.ru, mas48@tpu.ru
Поступила в редакцию: 6 октября 2023 г.
В окончательной редакции: 23 апреля 2024 г.
Принята к печати: 5 мая 2024 г.
Выставление онлайн: 22 июля 2024 г.

Представлены результаты исследования характеристик скользящего разряда по поверхности сегнетокерамики BaTiO3. Методом оптической эмиссионной спектроскопии исследован спектр излучения плазмы в диапазоне давлений остаточного газа 10-5-10-3 Тоrr. Спектр идентифицирован как линии атомов и ионов, входящих в состав керамики (Ba, Ti, O), и остаточной атмосферы (N). Установлено влияние тока разряда и давления остаточной атмосферы на интенсивность линий спектра. Ключевые слова: сегнетокерамика, источник ионов, эмиссионная спектроскопия, давление.
  1. Г.А. Месяц, УФН, 178 (1), 85 (2008). DOI: 10.3367/UFNr.0178.200801e.0085 [G.A. Mesyats, Phys. Usp., 51 (1), 79 (2008). DOI: 10.1070/PU2008v051n01ABEH006426]
  2. С.П. Бугаев, Г.А. Месяц, ЖТФ, 37 (10), 1861 (1967). [S.P. Bugaev, G.A. Mesyats, Sov. Phys. Tech. Phys., 12, 1358 (1968).]
  3. K. Chirko, Ya.E. Krasik, J. Felsteiner, J. Appl. Phys., 91 (12), 9487 (2002). DOI: 10.1063/1.1479465
  4. H. Riege, I. Boscolo, J. Handerek, U. Herleb, J. Appl. Phys., 84 (3), 1602 (1998). DOI: 10.1063/1.368230
  5. O. Peleg, K. Chirko, V. Gurovich, J. Felsteiner, Ya.E. Krasik, V. Bernshtam, J. Appl. Phys., 97 (11), 113307 (2005). DOI: 10.1063/1.1927704
  6. Y.E. Krasik, A. Dunaevsky, J. Felsteiner, A. Krokhmal, C. Leibovitch, A. Rosenberg, I. Schnitzer, J. Shiloh, IEEE Trans. Plasma Sci., 28 (5), 1642 (2000). DOI: 10.1109/27.901248
  7. K. Chirko, Ya.E. Krasik, J. Felsteiner, A. Sternlieb, J. Appl. Phys., 92 (10), 5691 (2002). DOI: 10.1063/1.1516259
  8. A. Dunaevsky, Ya.E. Krasik, J. Felsteiner, A. Sternlieb, J. Appl. Phys., 91 (3), 975 (2002). DOI: 10.1063/1.1425422
  9. A.V. Stepanov, F.V. Konusov, S.K. Pavlov, V.A. Tarbokov, M.A. Serebrennikov, Nucl. Inst. Meth. Phys. Res. A, 1062, 169223 (2024). DOI: 10.1016/j.nima.2024.169223
  10. С.П. Бугаев, В.В. Кремнев, Ю.И. Терентьев, В.Г. Шпак, Я.Я. Юрике, ЖТФ, 41 (9), 1958 (1971). [S.P. Bugaev, V.V. Kremnev, Yu.I. Terent'ev, V.G. Shpak, Ya.Ya. Yurike, Sov. Phys. Tech. Phys., 16, 1547 (1972).]
  11. С.В. Коробков, М.Е. Гущин, А.В. Стриковский, К.Н. Лоскутов, А.А. Евтушенко, ЖТФ, 89 (1), 35 (2019). DOI: 10.21883/JTF.2019.01.46959.117-18 [S.V. Korobkov, M.E. Gushchin, A.V. Strikovskiy, K.N. Loskutov, A.A. Evtushenko, Tech. Phys., 64 (1), 27 (2019). DOI: 10.1134/S1063784219010171]
  12. U. Cvelbar, N. Krstulovic, S. Milovsevic, M. Mozetivc, Vacuum, 82 (2), 224 (2007). DOI: 10.1016/j.vacuum.2007.07.016
  13. R. Engeln, B. Klarenaar, O. Guaitella, Plasma Sources Sci. Technol., 29 (6), 063001 (2020). DOI: 10.1088/1361-6595/ab6880
  14. D. Wu, L. Sun, J. Liu, X. Yu, R. Hai, C. Feng, Z. Wang, H. Ding, Phys. Plasmas, 26 (1), 013303 (2019). DOI: 10.1063/1.5081969
  15. V. Milosavljevic, M. Donegan, P.J. Cullen, D.P. Dowling, J. Phys. Soc. Jpn., 83 (1), 014501 (2014). DOI: 10.7566/JPSJ.83.014501
  16. S.M. Starikovskaia, K. Allegraud, O. Guaitella, A. Rousseau, J. Phys. D: Appl. Phys., 43 (12), 124007 (2010). DOI: 10.1088/0022-3727/43/12/124007
  17. J.J. Camacho, M. Santos, L. Di az, J.M.L. Poyato, J. Phys. D: Appl. Phys., 41 (21), 215206 (2008). DOI: 10.1088/0022-3727/41/21/215206
  18. N. Bolouki, W.-H. Kuan, Y.-Y. Huang, J.-H. Hsieh, Appl. Sci., 11 (13), 6158 (2021). DOI: 10.3390/app11136158
  19. Y.M. Kim, J.U. Kim, J.G. Han, Surf. Coat. Technol., 151-152, 227 (2002). DOI: 10.1016/S0257-8972(01)01601-2

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.