Предложен новый метод исследования внутренней структуры микрообъектов с помощью синхротронного излучения, основанный на поглощении. Метод регистрирует интегральную интенсивность излучения после прохождения объекта, а локальность определяется фокусировкой пучка в линию нанометровой ширины с помощью преломляющей линзы. При этом фазовый контраст не используется, результат получается сразу, а двумерное изображение объекта, т. е. зависимость его толщины от поперечных координат, вычисляется методом томографии. Метод не нуждается в сложных математических расчетах и дает результат с весьма высокой точностью. Для иллюстрации выполнена симуляция эксперимента с подложкой карбида кремния для типичных значений остальных параметров. Ключевые слова: синхротронное излучение, микрообъекты, нанофокусировка, томография, микропоры.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.