Вышедшие номера
Нелокальная динамика электронов в AlGaN/GaN-транзисторных гетероструктурах
Богданов С.А.1, Борисов А.А.1, Карпов С.Н.1, Кулиев М.В.1, Пашковский А.Б.1, Терёшкин Е.В.1
1АО "НПП "Исток" им. Шокина", Фрязино, Московская обл., Россия
Email: bogdanov_sa@mail.ru, borisov@istokmw.ru, serge95a@mail.ru, m.kuliev@mail.ru, solidstate10@mail.ru, evteryoshkin@gmail.com
Поступила в редакцию: 18 августа 2021 г.
В окончательной редакции: 1 октября 2021 г.
Принята к печати: 15 октября 2021 г.
Выставление онлайн: 15 ноября 2021 г.

Проведено сравнение нелокального разогрева электронов в транзисторных гетероструктурах на основе нитрида и арсенида галлия. Показано, что поперечный пространственный перенос электронов между слоями двойных псевдоморфных GaAs-гетероструктур в разы уменьшает величину всплеска их дрейфовой скорости при влете в область сильного поля по сравнению с его величиной в чистом объемном GaAs, а для гетероструктур на основе GaN аналогичный эффект не превышает 30%. Ключевые слова: поперечный пространственный перенос, гетероструктура, всплеск дрейфовой скорости.
  1. V. Camarchia, R. Quaglia, A. Piacibello, D.P. Nguyen, H. Wang, A.-V. Pham, IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 68 (7), 2957 (2020). DOI: 10.1109/TMTT.2020.2989792
  2. M. Micovic, A. Kurdoghlian, A. Margomenos, D.F. Brown, K. Shinohara, S. Burnham, I. Milosavljevic, R. Bowen, A.J. Williams, P. Hashimoto, R. Grabar, C. Butler, A. Schmitz, P.J. Willadsen, D.H. Chow, in 2012 IEEE/MMT-S Int. Microwave Symp. Digest (IEEE, 2012), p. 1. DOI: 10.1109/MWSYM.2012.6259572
  3. Y. Tang, K. Shinohara, D. Regan, A. Corrion, D. Brown, J. Wong, A. Schmitz, H. Fung, S. Kim, M. Micovic, IEEE Electron Dev. Lett., 36 (6), 549 (2015). DOI: 10.1109/LED.2015.2421311
  4. S. Rahman, N.A. Farhana Othman, S.W. Muhamad Hatta, N. Soin, ECS J. Solid State Sci. Technol., 6 (12), 805 (2017). DOI: 10.1149/2.0131712jss
  5. S. Bajaj, Z. Yang, F. Akyol, P.S. Park, Y. Zhang, A.L. Price, S. Krishnamoorthy, D.J. Meyer, S. Rajan, IEEE Trans. Electron Dev., 64 (8), 3114 (2017). DOI: 10.1109/TED.2017.2713784
  6. M.G. Ancona, J.P. Calame, D.J. Meyer, S. Rajan, B.P. Downey, IEEE Trans. Electron Dev., 66 (5), 2151 (2019). DOI: 10.1109/TED.2019.2904005
  7. T.R. Lenka, A.K. Panda, Semiconductors, 45 (5), 650 (2011). DOI: 10.1134/S1063782611050198
  8. B.E. Foutz, S.K. O'Leary, M.S. Shur, L.F. Eastman, J. Appl. Phys., 85 (11), 7727 (1999). DOI: 10.1063/1.370577
  9. А.Б. Пашковский, В.М. Лукашин, Я.Б. Мартынов, В.Г. Лапин, А.А. Капралова, И.А. Анисимов, Электронная техника. Сер. 1. СВЧ-техника, В. 4, 5 (2014)
  10. А.Б. Пашковский, С.И. Новиков, В.Г. Лапин, В.М. Лукашин, Я.Б. Мартынов, Письма в ЖТФ, 44 (17), 103 (2018). DOI: 10.21883/PJTF.2018.17.46577.17372 [A.B. Pashkovskii, S.I. Novikov, V.G. Lapin, V.M. Lukashin, Ya.B. Martynov, Tech. Phys. Lett., 44 (9), 804 (2018). DOI: 10.1134/S1063785018090092]
  11. M. Shur, Electron. Lett., 12 (23), 615 (1976)
  12. R. Sakamoto, K. Akai, M. Inoue, IEEE Trans. Electron Dev., 36 (10), 2344 (1989)
  13. А.А. Кальфа, А.Б. Пашковский, ФТП, 24 (3), 521 (1990)
  14. Н.З. Вагидов, З.С. Грибников, В.М. Иващенко, ФТП, 23 (2), 304 (1989)
  15. Н.З. Вагидов, З.С. Грибников, В.М. Иващенко, ФТП, 24 (6), 1087 (1990)
  16. В.Б. Горфинкель, С.Г. Шофман, ФТП, 22 (5), 793 (1988)
  17. А.Б. Пашковский, С.А. Богданов, Письма в ЖТФ, 45 (20), 11 (2019). DOI: 10.21883/PJTF.2019.20.48385.17925 [A.B. Pashkovskii, S.A. Bogdanov, Tech. Phys. Lett., 45 (10), 1020 (2019). DOI: 10.1134/S1063785019100286]
  18. D.Yu. Protasov, K.S. Zhuravlev, Solid-State Electron., 29, 66 (2017). DOI: 10.1016/j.sse.2016.12.013

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.