Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2021, выпуск 21 » Статья стр. 13
<<<>>>
Регистрация высокочастотных рельефно-фазовых голографических структур на фотоматериале ПФГ-04
DOI: 10.21883/PJTF.2021.21.51621.18941
Переводная версия: 10.21883/TPL.2022.14.52103.18941
Ганжерли Н.М. 1, Гуляев С.Н. 2, Маурер И.А. 1, Архипов А.В. 2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
Email: nina.holo@mail.ioffe.ru, gulyaev@rphf.spbstu.ru, arkhipov@rphf.spbstu.ru
Поступила в редакцию: 30 июня 2021 г.
В окончательной редакции: 14 июля 2021 г.
Принята к печати: 15 июля 2021 г.
Выставление онлайн: 27 августа 2021 г.
PDF версия
Предложен новый вариант обработки фотографических пластинок для голографии на основе бихромированного желатина ПФГ-04 (производство ОАО "Компания Славич", Переславль-Залесский) для изготовления высокочастотных рельефно-фазовых голографических решеток с пространственной частотой вплоть до 1500 mm-1. В основе технологии лежат избирательное деструктивное воздействие на желатин коротковолнового УФ-излучения и последующее травление слоя различными реагентами. Впервые на фотопластинках ПФГ-04 получены рельефно-фазовые высокочастотные голографические решетки с максимальной дифракционной эффективностью 67%.
  1. В.А. Барачевский, Оптика и спектроскопия, 124 (3), 371 (2018). DOI: 10.21883/PJTF.2021.21.51621.18941 [V.A. Barachevsky, Opt. Spectrosc., 124 (3), 373 (2018). DOI: 10.1134/S0030400X18030062]
  2. С.Н. Гуляев, В.П. Ратушный, Опт. журн., 70 (2), 45 (2003). [S.N. Gulyaev, V.P. Ratushnyi, J. Opt. Technol., 70 (2), 105 (2003). DOI: 10.1364/JOT.70.000105]
  3. Н.М. Ганжерли, С.Н. Гуляев, И.А. Маурер, Письма в ЖТФ, 42 (19), 26 (2016). [N.M. Ganzherli, S.N. Gulyaev, I.A. Maurer, Tech. Phys. Lett., 42 (10), 988 (2016). DOI: 10.1134/S1063785016100060]
  4. Н.М. Ганжерли, С.Н. Гуляев, И.А. Маурер, А.В. Архипов, Автометрия, 56 (12), 92 (2020). DOI: 10.15372/AUT20200210 [N.M. Ganzherli, S.N. Gulyaev, I.A Maurer, A.V. Arkhipov, Optoelectron. Instrum. Data Process., 56 (2), 77 (2020). DOI: 10.3103/S87566999020020065]
  5. Т.Х. Джеймс, Теория фотографического процесса (Химия, Л., 1980), с. 66. [T.H. James. The theory of the photographic process (Macmillan Publ. Co, N.Y., 1977).]
  6. J.Q. Umberger, Phot. Sci. Eng., 11 (6), 385 (1967)
  7. Л.Л. Досколович, Расчет дифракционных решеток в рамках строгой электромагнитной теории (Изд-во СГАУ, Самара, 2007)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme