Экспресс-характеризация волноводных гетероструктур с квантовыми ямами HgCdTe/CdHgTe с квазирелятивистcким законом дисперсии носителей методом спектроскопии фотолюминесценции при комнатной температуре
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Фундаментальные научные исследования для долгосрочного развития и обеспечения конкурентоспособности общества и государства, 075-15-2020-797 (13.1902.21.0024)
Морозов С.В.1,2, Уточкин В.В.1, Румянцев В.В.1, Фадеев М.А.1, Разова А.А.1, Алешкин В.Я.1, Гавриленко В.И.1, Михайлов Н.Н.3, Дворецкий С.А.3
1Институт физики микроструктур РАН --- филиал Института прикладной физики РАН, Нижний Новгород, Россия
2Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
3Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
![Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia](/images/e16.png)
Email: more@ipmras.ru, xenonum@bk.ru, rumyantsev@ipmras.ru, fadeev@ipmras.ru, ania.razova@yandex.ru, aleshkin@ipmras.ru, gavr@ipmras.ru, mikhailov@isp.nsc.ru, dvor@isp.nsc.ru
Поступила в редакцию: 28 октября 2020 г.
В окончательной редакции: 30 октября 2020 г.
Принята к печати: 30 октября 2020 г.
Выставление онлайн: 1 декабря 2020 г.
Предложена экспресс-методика характеризации узкозонных волноводных гетероструктур с квантовыми ямами HgCdTe/CdHgTe, основанная на анализе их люминесцентного отклика при комнатной температуре. Обсуждаются преимущества и ограничения данной методики характеризации структур в сравнении с более детальными методами диагностики, предполагающими проведение измерений фотолюминесценции и фотопроводимости в широком температурном интервале. Ключевые слова: HgCdTe, квантовые ямы, фотолюминесценция, стимулированное излучение.
- F.K. Tittel, D. Richter, A. Friedin, Solid-state mid-infrared laser sources, ed. by I.T. Sorokina, K.L. Vodopyanov (Springer, 2003), p. 458--529
- H.M. Heise, in Progress in fourier transform spectroscopy, ed. by J. Mink, G. Keresztury, R. Kellner. Mikrochimica Acta Supplement (Springer, Vienna, 1997), vol. 14, p. 67--77. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-6840-0\_9
- L. Consolino, S. Bartalini, H.E. Beere, D.A. Ritchie, M.S. Vitiello, P. De Natale, Sensors, 13 (3), 3331 (2013). https://doi.org/10.3390/s130303331
- B.A. Bernevig, T.L. Hughes, S.C. Zhang, Science, 314 (5806), 1757 (2006). DOI: 10.1126/science.1133734
- L. Lunczer, P. Leubner, M. Endres, V.L. Muller, C. Brune, H. Buhmann, L.W. Molenkamp, Phys. Rev. Lett., 123 (4), 047701 (2019). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.123.047701
- B. Buttner, C.X. Liu, G. Tkachov, E.G. Novik, C. Brune, H. Buhmann, E.M. Hankiewicz, P. Recher, B. Trauzettel, S.C. Zhang, L.W. Molenkamp, Nature Phys., 7 (5), 418 (2011). https://doi.org/10.1038/nphys1914
- D.A. Kozlov, Z.D. Kvon, N.N. Mikhailov, S.A. Dvoretskii, S. Weishaupl, Y. Krupko, J.-C. Portal, Appl. Phys. Lett., 105 (13), 132102 (2014). https://doi.org/10.1063/1.4896682
- G. Alymov, V. Rumyantsev, S. Morozov, V. Gavrilenko, V. Aleshkin, D. Svintsov, ACS Photon., 7 (1), 98 (2019). https://doi.org/10.1021/acsphotonics.9b01099
- N.N. Mikhailov, R.N. Smirnov, S.A. Dvoretsky, Y.G. Sidorov, V.A. Shvets, E.V. Spesivtsev, S.V. Rykhlitski, Int. J. Nanotechnol., 3 (1), 120 (2006). DOI: 10.1504/IJNT.2006.008725
- S.V. Morozov, V.V. Rumyantsev, M.A. Fadeev, M.S. Zholudev, K.E. Kudryavtsev, A.V. Antonov, A.M. Kadykov, A.A. Dubinov, N.N. Mikhailov, S.A. Dvoretsky, V.I. Gavrilenko, Appl. Phys. Lett., 111 (19), 192101 (2017). https://doi.org/10.1063/1.4996966
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.