Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2019, выпуск 4 » Статья стр. 34
<<<>>>
Электронная микроскопия и элементный состав приповерхностного слоя кристаллов LiF, облученных электронами
DOI: 10.21883/PJTF.2019.04.47335.17583
Переводная версия: 10.1134/S1063785019020299
Муссаева М.А.1, Ибрагимова Э.М.1,2
1Институт ядерной физики АН Республики Узбекистан, Улугбек, Ташкент, Узбекистан
2Центр передовых технологий при Министерстве инновационного развития Республики Узбекистан, Ташкент, Узбекистан
Email: ibragimova@inp.uz
Поступила в редакцию: 12 ноября 2018 г.
Выставление онлайн: 20 января 2019 г.
PDF версия
Методами электронной микроскопии и колебательных спектров исследованы наночастицы Li, сформированные на сколотой поверхности кристаллов LiF при облучении пучком электронов с энергией 4 MeV дозой 5· 1016 cm-2. Предполагается, что при интенсивном облучении в результате ионизации происходит радиолиз и удаление фтора по межблочным границам, где оставшиеся катионы лития нейтрализуются электронами и образуют наночастицы Li, которые собираются и взаимно ориентируются в микронити. Такая функциональная поверхность представляет практический интерес.
  1. Комаров Ф.Ф. // УФН. 2003. Т. 173. N 12. С. 1287--1318. DOI: 10.3367/UFNr.0173.200312b.1287
  2. Akashi Y., Yoneda Y. // J. Appl. Phys. 1972. V. 11. N 8. P. 1090--1096
  3. Милютина У.В., Петровский А.Ф., Ракевич А.Л., Мартынович Е.Ф. // Письма в ЖТФ. 2014. Т. 40. В. 9. С. 64--71
  4. Тютрин А.А., Глазунов Д.С., Ракевич А.Л., Мартынович Е.Ф. // Письма в ЖТФ. 2018. Т. 44. В. 15. С. 12--19. DOI: 10.21883/PJTF.2019.04.47335.17583
  5. Schwartz K.H. // RAU Sci. Rep. Comput. Model. New Technol. 1998. V. 2. P. 5--14
  6. Beuneu F., Vajda P., Zogal O.J. // Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B. 2002. V. 191. N 1-4. P. 149--153. https://doi.org/10.1016/S0168-583X(02)00535-9
  7. Здоровец М., Акилбеков А., Русакова А., Даулетбекова А., Абуова Ф., Мухышбаева А. // Изв. вузов. Физика. 2009. N 8/2. С. 331--333
  8. Брюквина Л.И., Мартынович Е.Ф. // ФТТ. 2012. Т. 54. В. 12. С. 2056--2061
  9. Федоров В.А., Новиков Г.В. // Вестн. Тамбов. ун-та. 2013. Т. 18. N 4. С. 1784--1785
  10. Федоров В.А., Новиков Г.В., Новгородов Л.А., Васильева С.В., Подкауро А.М. // Вестн. Тамбов. ун-та. 2014. Т. 19. N 2. С. 717--721
  11. Муссаева М.А., Ибрагимова Э.М., Бузриков Ш.Н. // Оптика и спектроскопия. 2018. Т. 124. В. 5. С. 612--616. DOI: 10.21883/OS.2018.05.45940.293-17-17
  12. Зефирова В.Л., Колонцова Е.В., Луценко В.П. // Вестн. МГУ. Сер. 3. Физика, астрономия. 1976. Т. 17. N 5. С. 631--633
  13. Dolling G., Smith H.G., Nicklow R.M., Vijayaraghavan P.R., Wilkinson M.K. // Phys. Rev. 1968. V. 168. P. 970--979. DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRev.168.970
  14. Костюков Н.С., Маслов В.В., Муминов М.И. Радиационная стойкость диэлектриков. Ташкент: Фан, 1981. 213 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme