Вышедшие номера
Электронная структура наноинтерфейса Cs/n-GaN(0001)
Переводная версия: 10.1134/S106378501803015X
Бенеманская Г.В.1, Лапушкин М.Н.1, Марченко Д.Е.2, Тимошнев С.Н.3
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Helmholtz-Zentrum Berlin fur Materialien und Energie GmbH, Berlin, Germany
3Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Email: Lapushkin@ms.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 23 мая 2017 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2018 г.

Впервые проведены фотоэмиссионные исследования методом фотоэлектронной спектроскопии in situ электронной структуры поверхности n-GaN(0001) и интерфейса Cs/n-GaN(0001) в диапазоне субмонослойных Cs-покрытий. Изучены спектры фотоэмиссии из валентной зоны, спектры поверхностных состояний и остовных уровней Ga 3d, Cs 4d и Cs 5p при синхротронном возбуждении в диапазоне энергий фотонов 50-150 eV. Обнаружена эволюция спектра поверхностных состояний вблизи максимума валентной зоны при адсорбции атомов Cs. Показан металлический характер наноинтерфейса Cs/n-GaN(0001). DOI: 10.21883/PJTF.2018.06.45767.16885