Вышедшие номера
Исследование влияния случайных флуктуаций концентрации легирующей примеси на ток в полупроводниковых сверхрешетках
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), мол_а_дк, 16-32-60059
Сельский А.О. 1,2, Короновский А.А. 1, Москаленко О.И. 1, Храмов А.Е. 2
1Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия
2Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю.А., Саратов, Россия
Email: feanorberserk@gmail.com, alexey.koronovskii@gmail.com , o.i.moskalenko@gmail.com , hramovae@gmail.com
Поступила в редакцию: 1 июня 2017 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2017 г.

Исследуется, как случайные флуктуации концентрации легирующей примеси влияют на вольт-амперные характеристики тока, протекающего через полупроводниковую сверхрешетку. Показано, что в зависимости от амплитуды флуктуаций параметров наноструктуры характеристики тока, протекающего через сверхрешетку, заметно изменяются. По малой выборке удалось найти закон распределения плотности вероятности значений интеграла модуля разности токов при различных значениях амплитуды флуктуаций концентрации легирующей примеси. DOI: 10.21883/PJTF.2017.20.45144.16896