"Письма в журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Роль кристаллографической анизотропии в формировании структуры имплантированных слоев монокристаллов NiTi
Полетика Т.М. 1, Мейснер Л.Л. 1,2, Гирсова С.Л. 1, Твердохлебова А.В. 1, Мейснер С.Н. 1,2
1Институт физики прочности и материаловедения СО РАН, Томск
2Национальный исследовательский Томский государственный университет, Томск
Email: poletm@ispms.tsc.ru, girs@ispms.tsc.ru, a@vtverd.ru, msn@ispms.tsc.ru
Поступила в редакцию: 1 октября 2015 г.
Выставление онлайн: 19 февраля 2016 г.

Методом оже-электронной спектроскопии и просвечивающей электронной микроскопии исследованы состав и структура имплантированных слоев Si монокристаллов NiTi, различно ориентированных относительно направления ионно-пучкового воздействия. Выявлена роль "мягкой" [111]B2 и "жесткой" [001]B2 ориентаций NiTi в формировании структуры ионно-модифицированного поверхностного слоя, а также дефектной структуры приповерхностных слоев монокристаллов.
  • Liu X., P.K. Chu, Ding C. // Mater. Sci. Eng. R. 2010. V. 70. P. 275
  • Pogrebnjak A.D., Bratushka S.N. // Russian Chem. Rev. 2013. V. 82. P. 1135
  • Schaffer J.E. // J. Mater. Eng. Perform. 2009. V. 18. P. 582
  • Meisner S.N. // Russ. Phys. J. 2014. V. 57. P. 403
  • Czeppe T., Levintant-Zayonts N., Swiatek Z. at al. // Vacuum. 2009. V. 83. P. S214
  • Shabalovskaya S., Tian H., James W. at al. // Biomaterials. 2009. V. 30. P. 468
  • Sputtering by Particle Bombardment / Ed. by R. Behrisch. Berlin: Springer, 1983. 488 p
  • Saraf L.V. // Methods Phys. Res. Sect. B. 2015. V. 349. P. 193
  • Gall K., Sehitoglu H., Chumlyakov Y.I., Kireeva I.V. // Acta Mater. 1999. V. 47. P. 1203
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.