Вышедшие номера
Проявление размерного квантования на выступах шероховатой поверхности полупроводников A3B5
Михайлов А.И.1, Кабанов В.Ф.1, Жуков Н.Д.1
1Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия
Email: v7021961@yandex.ru
Поступила в редакцию: 17 июня 2015 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2015 г.

Проведено экспериментальное исследование автоэлектронной эмиссии из субмикронных выступов шероховатой поверхности образцов полупроводников группы A3B5: InSb, InAs, GaAs. Показано, что для полупроводниковых образцов InSb и InAs наблюдаемые пики на дифференциальных туннельных ВАХ могут быть интерпретированы как проявление размерного квантования энергетического спектра электронов проводимости. Для GaAs проявления размерного квантования на дифференциальных туннельных ВАХ в условиях эксперимента выявлено не было. По результатам анализа экспериментальных данных проведена оценка характерного размера квантового объекта, сформированного на выступах шероховатой поверхности InSb и InAs.
  1. Михайлов А.И., Кабанов В.Ф., Жуков Н.Д. // Письма в ЖТФ. 2015. Т. 41. В. 12. С. 8--14
  2. Жуков Н.Д., Глуховской Е.Г. // Нанотехника. 2014. В. 2. С. 127--131
  3. Сканирующий зондовый микроскоп. НАНОЭДЬЮКАТОР-I: Руководство по эксплуатации. 2012. Copyright © "НТ-МДТ". http://www.ntmdt.ru
  4. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. / Российская академия наук. Институт физики микроструктур. Нижний Новгород, 2004. 110 с
  5. Драгунов В.П., Неизвестный И.Г., Гридчин В.А. Основы наноэлектроники: Учебное пособие. М.: Университетская книга; Логос; Физматкнига, 2006. 496 с
  6. Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела: Учебное пособие / В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин; под ред. В.Д. Бормана: М.: МИФИ, 2008. 260 с
  7. Демиховский В.Я., Филатов Д.О. Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии: Учебно-методический материал по программе повышения квалификации "Физико-химические основы нанотехнологий". Нижний Новгород, 2007. 77 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.