Вышедшие номера
Об одной возможности точного измерения показателя преломления прозрачной жидкости
Неркарарян Х.В.1, Маркарян Н.Л.1, Оганнисян Е.Дж.1
1Ереванский государственный университет
Поступила в редакцию: 15 декабря 1996 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1997 г.

В работе рассматриваются особенности распространения световой волны через структуру полупроводник-зазор-полупроводник. Здесь толщина зазора между параллельно расположенными плоскостями кристаллов - величина порядка микрометра. Показано, что сочетание процессов многократного отражения и интерференции приводит к экспоненциальной форме зависимости интенсивности проходящего излучения от показателя преломления, заполняющего зазор материала. Это обстоятельство позволяет предложить простой метод точного определения показателя преломления прозрачной жидкости.
  1. Шишловский А.А. Прикладная физическая оптика. М., 1961. 822 с
  2. Иоффе Б.В. Рефрактометрические методы химии. Л., 1983. 351 с
  3. Ding T., Garmire E. // Appl. Opt. 1983. V. 22. N 20. P. 3177--3181
  4. Kersten R.Th. // Optics Communications. 1977. V. 13. N 3. P. 327--329
  5. Арутюнян Вл.М., Неркарарян Х.В. // Письма в ЖТФ. 1993. Т. 19. В. 21. С. 44--48
  6. Арутюнян Вл.М., Неркарарян Х.В. // ФТТ. 1994. Т. 36. В. 5. С. 1513--1516
  7. Aroutionian V.M., Nerkararian Kh.V. // Sensors and Actuators. 1995. V. 24--25. P. 353--356
  8. Арутюнян Вл.М., Неркарарян Х.В. // Письма в ЖТФ. 1995. Т. 21. В. 16. С. 52--56

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.