Применение метода фотодефлекционной спектроскопии для измерения скорости поверхностной рекомбинации кремния в диапазоне температур 77--300 K
Лапшин К.В.1, Петровский А.Н.1, Сальник А.О.1, Зуев В.В.1
1Московский инженерно-физический институт
Поступила в редакцию: 29 июня 1994 г.
Выставление онлайн: 20 октября 1994 г.
- Fournier D., Boccara C., Skumanich A., Amer N.M. J. Appl. Phys. 1986. V. 59. N 3. P. 787--795
- Зуев В.В., Мехтиев М.М., Мухин Д.О., Петровский А.Н., Сальник А.О. Препринт МИФИ. N 031--90. M., 1990. 24 с
- Petrovsky A.N., Salnick A.O., Zuev V.V., Mukhin D.O., Mekhtiev M.M., Fournier D., Boccara A.C., Pelzl J. Solid State Comm. 1992. V. 81. N 3. P. 223--225
- Лапшин К.В., Петровский А.Н., Сальник А.О. Письма в ЖТФ, Т. 9. В. 1. 1993. С. 24--28
- Дьяконов В.П. Справочник по расчетам на микрокалькуляторах. М., 1986. 224 с
- Зуев В.В., Клышевич А.И., Стяпанавичюс А.А., Яковлев М.П. ФТП. 1992. Т. 26. В. 1. С. 171--173
- Зи С. Физика полупроводниковых приборов. Кн. 1. М., 1984, 456 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук