Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 1994, выпуск 4 » Статья стр. 41
<<<>>>
Исследование состава пленок оксида диспрозия методом ИК спектроскопии
Бабушкина Н.В.1
1Институт электроники Минск
Поступила в редакцию: 15 октября 1993 г.
Выставление онлайн: 20 января 1994 г.
PDF версия
  1. Патент США N 4495219, МКИ3 В 05 D 5/12. 22.1.85
  2. Gurvich M., Manchanda L., Gibson J.M. Appl. Phys. Lett. 1987. V. 51. N 12. P. 919--921
  3. Gasgnier M. Phys. Stat. Sol. (a). 1989. V. 114. N 1. P. 11--71
  4. Вдовин О.С. Исследование структуры и электрофизических свойств пленок РЗМ и их окислов. Автореф. канд. дис. физ.-мат. наук. 01.04.10. Саратов, 1974. 175 с
  5. Серебренников В.В., Якунина Г.М., Сергеев А.Н. Электронная техника. Сер. Материалы. 1981. В. 12 (16). С. 3--14
  6. Юрченко Э.Н., Кустова Г.Н., Бацанов С.С. Колебательные спектры неорганических соединений. Новосибирск: Наука, 1981. 145 с
  7. Лазарев А.Н., Тенищева Т.Ф. Изв. АН СССР. Сер. хим. 1961. В. 6. С. 964--973

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme