Высокоразрешающие методы микроскопии при анализе структуры неоднородностей на поверхности органических пленок
Розанов В.В.1, Евстрапов А.А.1
1Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург
Email: an_evs@mail.ru
Поступила в редакцию: 12 декабря 2007 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2008 г.
Анализируются особенности получения информации о поверхностной структуре полиимидной ленгмюровской пленки при ее исследовании методами высокоразрешающей атомно-силовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии. Обсуждается предположение, что образование структурных неоднородностей микронных и субмикронных размеров связано как с механическими дефектами подложки, так и с процессом термической имидизации. PACS: 68.37.-d
- Нанотехнология. Физика, процессы, диагностика, приборы / Под ред. В.В. Лучинина, Ю.М. Таирова. М.: Физматлит, 2006. 551 c
- Львов Ю.М. Фейгин Л.А. // Кристаллография. 1987. Т. 32. N 3. С. 800--815
- Suzuki M., Kakimoto M., Konishi T. et al. // Chemistry Letters. 1986. P. 395--398
- Голоудина С.И., Лучинина В.В., Розанов В.В. и др. // Письма в ЖТФ. 2006. Т. 32. В. 23. С. 54--59
- Розанов В.В., Евстрапов А.А. // Научное приборостроение. 2007. Т. 17. N 4 (в печати)
- Паксюта В.М. // Автореф. дис. на соис. ученой степ. канд. техн. наук. СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2005
- Horton M., Lehenkari P., Charras G. // Microscopy and analysis. 2003. Is. 86. P. 17--19
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук