Определение остаточных примесей в монокристаллах сапфира методами электронного парамагнитного резонанса и ядерно-активационного анализа
Блецкан Д.И., Братусь В.Я., Лукьянчук А.Р., Маслюк В.Т., Парлаг О.А.
Поступила в редакцию: 20 ноября 2007 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2008 г.
Исследованы спектры ЭПР и активированные тормозным излучением (12 MeV) gamma-спектры кристаллов сапфира (alpha-Al2O3), выращенных методами Вернейля и Киропулоса. Показано, что при выращивании кристаллов сапфира из расплава методом Киропулоса в молибденово-вольфрамовых тиглях поставщиком неконтролированных примесей в кристаллы кроме исходного сырья является материал теплового узла и тигля - молибден. PACS: 76.30.-v, 61.72.J-
- Nakamura S. Introduction to nitride semiconductor blue lasers and light emitting diodes. London: Taylor Francis, 2000
- Блецкан Д.И., Блецкан А.Д., Лукьянчук А.Р. и др. // Научный вестник Ужгородского университета. Сер. физ. 2000. N 6. С. 221--239
- Корниенко Л.С., Прохоров А.М. // ЖЭТФ. 1961. Т. 40. N 6. C. 1594--1601
- Сиулина Г.А., Фещенко Г.А. // Радиотехника и электроника. 1961. N 5. С. 806--814
- Маненков А.А., Прохоров А.М. // ЖЭТФ. 1955. Т. 28. N 6. С. 762
- Sharoyan E.G., Torosyan O.S., Markosyan E.A. et al. // Phys. Status Solidi (b). 1974. V. 65. N 2. P. 773--778
- Лукьянчук А.Р. // Научный вестник Ужгородского университета. Сер. физ. 2003. N 13. С. 90--93
- Лаптева Г.А., Цеглеев А.А., Терентьев В.И. и др. // Синтез минералов и методы их исследования. Геология месторождений пьезооптического и камнесамоцветного сырья. Труды ВНИИСИМС. 1997. Т. 14. С. 412--416
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
