"Письма в журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Анизотропия дифракционных характеристик тонких пленок пиролитического графита
Турьянский А.Г.1, Гижа С.С.1, Сенков В.М.1
1Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия
Email: algeo-tour@yandex.ru
Поступила в редакцию: 13 февраля 2013 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2013 г.

Исследованы полярные диаграммы и локальные дифракционные характеристики тонких пленок из высокоориентированного пиролитического графита (ВПГ), используемого для монохроматизации излучения и рентгеновской спектрометрии. Измерения проводились с помощью двухволнового рентгеновского рефлектометра. При угловом азимутальном сканировании исходных пленок ВПГ рентгеновским зондом с площадью сечения <0.1 mm2 наблюдалась резкая анизотропия коэффициента дифракционного отражения. Показана возможность подавления влияния анизотропии, и обоснованы условия применения пленок ВПГ в качестве дисперсионного элемента для схем рентгеновской томографии и мэппирования, а также для исследования спектров по единичному импульсу рентгеновского лазера.
  • Турьянский А.Г., Пиршин И.В. // ПТЭ. 2011. N 4. С. 120--129
  • Legall H., Stiel H., Schnurer M., Pagels M., Kanngieber B. et al. // J. Appl. Cryst. 2009. V. 42. P. 572--579
  • Yuan X.H., Carroll D.C., Coury M., Gray R.J., Brenner C.M. et al. // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. 2011. V. A 653. P. 145--149
  • Синицына О., Яминский И. // Наноиндустрия. 2011. Т. 30. N 6. С. 32--33
  • Ohler М., Sanchez M. del Rio, Tuffanelli A., Gambaccini M., Taibi A., Fantin A., Pareschi G. // J. Appl. Cryst. 2000. V. 33. P. 1023--1030
  • Legall H., Stiel H., Antonov A. et al. // Proc. FEL. 2006. P. 798. BESSY. Berlin. Germany
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.