"Письма в журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Увеличение плотности нанокластеров beta-FeSi2 на поверхности Si(111) с помощью формирования реконструкции Si(111)sqrt(3)sqrtB
Иванченко М.В.1,2, Борисенко Е.А.1,2, Котляр В.Г.1,2, Утас О.А.1,2, Устинов В.В.1,2, Лифшиц В.Г.1,2
1Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, Владивосток
2Институт физики металлов им. М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук, Екатеринбург, Россия
Email: maxim@iacp.dvo.ru
Поступила в редакцию: 29 ноября 2005 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2006 г.

С помощью метода сканирующей туннельной микроскопии исследовано формирование нанокластеров дисилицида железа beta-FeSi2 в результате твердофазной эпитаксии при температурах отжига 500-700oC и покрытиях железа 0.05-0.5 моноатомного слоя на модифицированной бором поверхности Si(111)sqrt(3)sqrtB. Сопоставление с результатами для чистой поверхности Si(111)7x7 показало, что плотность нанокластеров beta-FeSi2 на Si(111)sqrt(3)sqrtB значительно превышает их плотность на поверхности Si(111)7x7. При этом плотность точечных дефектов и структур, обладающих металлическим типом проводимости, на поверхности Si(111)sqrt(3)sqrtB на несколько порядков ниже, чем на поверхности Si(111)7x7 при аналогичных покрытиях Fe и температурах отжига. PACS: 81.07.-b
  • Bost M.C., Mahan J.E. // J. Vac. Sci. Technol. B. 1986. V. 4. P. 1336
  • Christensen N.E. // Phys. Rev. B. 1990. V. 42. N 11. P. 7148--7153
  • Bellani V., Guizzetti G., Marabelli F. et al. // Solid State Commun. 1995. V. 96 (10). P. 751--756
  • Suemasu T., Fujii T., Takakura K., Hasegawa F. // Thin Solid Films. 2001. V. 381. P. 209--213
  • Suemasu T., Negishi Y., Takakura K. et al. // Japan J. Appl. Phys. 2000. V. 39. Part 2. N 10B. P. L1013--L1015
  • Lourenco M.A., Milosavljevic M., Gwilliam R.M. et al. // Thin Solid Films. 2004. V. 461. P. 219--222
  • Lourenco M.A., Butler T.M., Kewell A.K. et al. // Japan J. Appl. Phys. 2001. V. 40(1). 6A. P. 4041--4044
  • Manassen Y., Reaple H., Shneck R. et al. // Phys. Rev. B. 2003. V. 68. P. 075412-1--075412-11.
  • Krause M., Blobner F., Hammer L. et al. // Phys. Rev. B. 2003. V. 68, P. 125306-1--125306-10.
  • Nogami J., Yoshikawa S., Glueckstein J.S. et al. // Scanning Microscopy. 1994. V. 8. N 4. P. 835--840
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.