Вышедшие номера
Спектры отражения поликристаллов SmS в дальней инфракрасной области
Улашкевич Ю.В.1, Каминский В.В.1, Казанин М.М.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: ulashkev@mail.ru
Поступила в редакцию: 18 апреля 2012 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2012 г.

Измерены спектры отражения поликристаллических образцов SmS в дальней инфракрасной области в широком интервале температур (293-80 K). Показана эффективность таких измерений для определения градиента концентрации свободных электронов, что важно для оценки величины термовольтаического эффекта в образце. Работа поддержана грантом РФФИ N 11-08-00583-а, а также фирмой "SmS tenzotherm GmbH".
  1. В.В. Каминский, С.М. Соловьев. ФТТ 43, 423 (2001)
  2. В.В. Каминский, М.М. Казанин. Письма в ЖТФ 34, 8, 92 (2008)
  3. В.В. Каминский, М.М. Казанин, А.Н. Клишин, С.М. Соловьев, А.В. Голубков. ЖТФ 81, 6, 150 (2011)
  4. V. Zelezny, J. Petzelt, V.V. Kaminski, M.V. Romanova, A.V. Golubkov. Solid State Commun. 72, 1, 43 (1989)
  5. Ю.И. Уханов. Оптические свойства полупроводников. Наука, М. (1977). 368 с
  6. Ю.В. Улашкевич, В.В. Каминский, А.В. Голубков. ФТП 43, 324 (2009)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.