Вышедшие номера
Механизм переноса заряда в интеркалированных соединениях CuxHfSe2
Плещев В.Г.1, Баранов Н.В.1,2, Мельникова Н.В.1, Селезнева Н.В.1
1Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина, Екатеринбург, Россия
2Институт физики металлов им. М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук, Екатеринбург, Россия
Email: Valery.Pleschov@usu.ru
Поступила в редакцию: 11 января 2012 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2012 г.

Впервые на интеркалированных образцах CuxHfSe2 (0=<q x=<q0.18) наряду с измерениями электросопротивления на постоянном токе проведены измерения на переменном токе с использованием методики импедансной спектроскопии. Полученные результаты указывают, что перенос заряда в соединениях CuxHfSe2 происходит по прыжковому механизму. Обнаружено, что увеличение содержания меди в образцах приводит к ускорению релаксационных процессов. Проводимость на переменном токе испытывает частотную дисперсию, которая описывается универсальным динамическим откликом. Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (проект N 12-02-00778-а).