Сравнение прямого и обменного вкладов в экситон-экситонное взаимодействие в квантовой яме GaAs/AlGaAs в электрическом поле
Saint-Petersburg State University, Russia, 125022803069-4
China Scholarship Council, China
Zheng Shiming
1, Храмцов Е.С.
1, Игнатьев И.В.
11Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия

Email: zsm210603@gmail.com, e.khramtsov@spbu.ru, i.ignatiev@spbu.ru
Поступила в редакцию: 3 апреля 2026 г.
В окончательной редакции: 20 мая 2026 г.
Принята к печати: 20 мая 2026 г.
Выставление онлайн: 27 июня 2026 г.
Теоретически исследовано влияние электрического поля на величину экситон-экситонного взаимодействия в гетероструктуре GaAs/AlGaAs с квантовой ямой шириной L=30 nm. Рассмотрены вклады обменного и прямого кулоновского взаимодействия экситонов, находящихся в одинаковых спиновых состояниях. Установлено, что в электрических полях F<10 kV/cm константа фермионного обменного взаимодействия (Jexch) отрицательна. Константа прямого кулоновского взаимодействия (Jdir) пренебрежимо мала в полях F<2 kV/cm и постепенно нарастает до значения Jdir=8.5 μeV μm2 в поле F=10 kV/cm. Суммарная энергия экситон-экситонного взаимодействия H=nX·2(Jdir-Jexch) положительна, что соответствует отталкиванию экситонов. Она варьируется от значения H~ 10 μeV в нулевом поле до значения H~ 16 μeV в поле F=10 kV/cm при плотности экситонов nX=1 μm-2. Сделана оценка критической плотности экситонов, при которой экситоны становятся нестабильны, и формируется электронно-дырочная плазма в поле F=10 kV/cm. Дальнейший рост поля приводит к увеличению энергии экситон-экситонного взаимодействия и более жестким ограничениям на плотность nX для сохранения стабильности экситонов. Ключевые слова: экситон-экситонное взаимодействие, квантовая яма, электрическое поле.
- N. Peyghambarian, H.M. Gibbs, J.L. Jewell, A. Antonetti, A. Migus, D. Hulin, A. Mysyrowicz. Phys. Rev. Lett. 53, 2433 (1984)
- L.V. Butov, A.L. Ivanov, A. Imamoglu, P.B. Littlewood, A.A. Shashkin, V.T. Dolgopolov, K.L. Campman, A.C. Gossard. Phys. Rev. Lett. 86, 5608 (2001)
- L. Butov, C. Lai, A. Ivanov, A. Gossard, D. Chemla. Nature 417, 47 (2002)
- L. Butov. Superlattices Microstruct. 108, 2 (2017)
- S.I. Tsintzos, A. Tzimis, G. Stavrinidis, A. Trifonov, Z. Hatzopoulos, J.J. Baumberg, H. Ohadi, P.G. Savvidis. Phys. Rev. Lett. 121, 037401 (2018)
- V. Shahnazaryan, I. Iorsh, I.A. Shelykh, O. Kyriienko. Phys. Rev. B 96, 115409 (2017)
- G. Wang, A. Chernikov, M.M. Glazov, T.F. Heinz, X. Marie, T. Amand, B. Urbaszek. 90, 021001 (2018)
- D. Erkensten, S. Brem, E. Malic. Phys. Rev. B 103, 045426 (2021)
- A. Steinhoff, E. Wietek, M. Florian, T. Schulz, T. Taniguchi, K. Watanabe, S. Zhao, A. Hogele, F. Jahnke, A. Chernikov. Phys. Rev. X 14, 031025 (2024)
- S. Grisard, A.V. Trifonov, T. Hahn, T. Kuhn, O. Hordiichuk, M.V. Kovalenko, D.R. Yakovlev, M. Bayer, I.A. Akimov. ACS Photonics 11, 2930 (2024)
- T.J. Sheehan, S. Saris, W.A. Tisdale. Adv. Mater. 37, 2415757 (2025)
- J. Dostal, F. Fennel, F. Koch, S. Herbst, F. Wurthner, T. Brixner. Nat. Commun. 9, 1, 2466 (2018)
- C. Ciuti, V. Savona, C. Piermarocchi, A. Quattropani, P. Schwendimann. Phys. Rev. B 58, 7926 (1998)
- S. Ben-Tabou de Leon, B. Laikhtman. Phys. Rev. B 63, 125306 (2001)
- C. Schindler, R. Zimmermann. Phys. Rev. B 78, 045313 (2008)
- M. Combescot, O. Betbeder-Matibet, R. Combescot. Phys. Rev. B 75, 174305 (2007)
- M.M. Glazov, H. Ouerdane, L. Pilozzi, G. Malpuech, A.V. Kavokin, A. D'Andrea. Phys. Rev. B 80, 155306 (2009)
- K. Sivalertporn, L. Mouchliadis, A.L. Ivanov, R. Philp, E.A. Muljarov. Phys. Rev. B 85, 045207 (2012)
- J. Wilkes, E. Muljarov. Superlattices Microstruct. 108, 32 (2017)
- B.F. Gribakin, E.S. Khramtsov, A.V. Trifonov, I.V. Ignatiev. Phys. Rev. B 104, 205302 (2021)
- S. Zheng, E. Khramtsov, I. Ignatiev. Phys. E 174, 116333 (2025)
- P.A. Noordman, L. Maisel Liceran, H.T.C. Stoof. Phys. Rev. B 113, 155440 (2026)
- J. Kasprzak, M. Richard, S. Kundermann, A. Baas, P. Jeambrun, J.M.J. Keeling, F.M. Marchetti, M.H. Szymanska, R Andre, J.L. Staehli, V. Savona, P.B. Littlewood, B. Deveaud, L.S. Dang. Nature 443, 409 (2006)
- A. Kavokin, J. Baumberg, G. Malpuech, F. Laussy. Microcavities, Series on Semiconductor Science and Technology. OUP Oxford (2007). 432 c
- T. Byrnes, P. Recher, Y. Yamamoto. Phys. Rev. B 81, 205312 (2010)
- F. Tassone, Y. Yamamoto. Phys. Rev. B 59, 10831 (1999)
- M.A. Masharin, V.A. Shahnazaryan, I.V. Iorsh, S.V. Makarov, A.K. Samusev, I.A. Shelykh. ACS Photonics 10, 691 (2023)
- М.А. Чукеев, Е.С. Храмцов, Ш. Чжэн, И.В. Игнатьев, С.А. Елисеев, Ю.П. Ефимов. ФТП 57, 6, 461 (2023). [M.A. Chukeev, E.S. Khramtsov, S. Zheng, I.V. Ignatiev, S.A. Eliseev, Y.P. Efimov. Semiconductors 57, 457 (2023)]
- M.A. Chukeev, Sh. Zheng, E.S. Khramtsov, I.V. Ignatiev, S.A. Eliseev, V.A. Lovtcius, Yu.P. Efimov, M.A. Lozhkin. Phys. Rev. B 109, 235305 (2024)
- G. Aichmayr, M. Jetter, L. Vina, J. Dickerson, F. Camino, E.E. Mendez. Phys. Rev. Lett. 83, 2433 (1999)
- C.J. Dorow, M.W. Hasling, D.J. Choksy, J.R. Leonard, L.V. Butov, K.W. West, L.N. Pfeiffer. Appl. Phys. Lett. 113, 21, 212102 (2018)
- E.S. Khramtsov, P.S. Grigoryev, D.K. Loginov, I.V. Ignatiev, Yu.P. Efimov, S.A. Eliseev, P.Yu. Shapochkin, E.L. Ivchenko, M. Bayer. Phys. Rev. B 99, 035431 (2019)
- E.L. Ivchenko. Optical Spectroscopy of Semiconductor Nanostructures. Alpha Science International, Ltd (2005). 350 c
- E.S. Khramtsov, P.A. Belov, P.S. Grigoryev, I.V. Ignatiev, S.Y. Verbin, Yu.P. Efimov, S.A. Eliseev, V.A. Lovtcius, V.V. Petrov, S.L. Yakovlev. J. Appl. Phys. 119, 184301 (2016)
- B. Gerlach, J. Wuesthoff, M.O. Dzero, M.A. Smondyrev. Phys. Rev. B 58, 10568 (1998)
- I. Vurgaftman, J.R. Meyer, L.R. Ram-Mohan. J. Appl. Phys. 89, 5815 (2001)
- Л.Д. Ландау, Е.М. Лившиц. Квантовая механика. Нерелятивистская теория. Изд. " Наука", физ.-мат. лит, М. (1974)
- M. Capizzi, S. Modesti, A. Frova, J.L. Staehli, M. Guzzi, R.A. Logan. Phys. Rev. B 29, 2028 (1984).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.