Фотоиндуцированные изменения импеданса и проводимости пленок CuInSe2 в зависимости от технологии их синтеза
Романова О.Б.
1, Аплеснин С.С.
1,2, Гаджиев Т.М.
3, Ситников M.Н.
2, Алиев М.А.
3, Никитинский О.С.
2, Удод Л.В.
1,21Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
2Сибирский государственный университет науки и технологий им. М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
3Институт физики им. Х.И. Амирханова ДФИЦ РАН, Махачкала, Россия

Email: rob@iph.krasn.ru, apl@iph.krasn.ru, gadjiev_timur@mail.ru, kineru@mail.ru, aliev_marat@mail.ru, onikitinsky@yandex.ru, luba@iph.krasn.ru
Поступила в редакцию: 24 октября 2025 г.
В окончательной редакции: 24 октября 2025 г.
Принята к печати: 25 октября 2025 г.
Выставление онлайн: 28 ноября 2025 г.
Методом управляемой селенизации были синтезированы пленки CuInSe2 с халькопиритной структурой. Установлено, что температура селенизации (Tsel) является критическим параметром, определяющим морфологию и электрофизические свойства пленок. Найдена нелинейная вольт-амперная характеристика, обусловленная электрической неоднородностью материала. Определена оптимальная Tsel=350 oC, при которой наблюдается максимальный фотоэффект и наибольшее время релаксации. При Tsel<300 oC обнаружено фотоиндуцированное изменение импеданса. Ключевые слова: поликристаллические пленки, электрофизические свойства, фотопроводимость
- T. Nakada, K. Migita, A. Kunioka. Jpn. J. Appl. Phys. 32, L1169 (1993). DOI: 10.1143/jjap.32.l1169
- Е.П. Зарецкая, В.Ф. Гременюк, В.Б. Залесский, В.А. Иванов, И.В. Викторов, В.И. Ковалевский, О.В. Ермаков, Т.Р. Леонова. ЖТФ 70, 141 (2000)
- J. Ramanujam, U.P. Singh. Energy Environ.Sci. 10, 1306 (2017). DOI: 10.1039/C7EE00826K
- X. Liu, Y. Feng, H. Cui, F. Liu, X. Hao, G. Conibeer, D.B. Mitzi, M. Green. Prog. Photovolt. 24, 879 (2016). DOI: 10.1002/pip.2741
- J.L. Shay, J.H. Wernick. Ternary Chalcopyrite Semiconductors: Growth, Electronic Properties, and Applications. Pergamon, Press (1975). 244 p.
- P. Jackson, R. Wuerz, D. Hariskos, E. Lotter, W. Witte, M. Powalla. Phys. Stat. Sol. Rapid Res. Lett. 10, 583 (2016). DOI: 10.1002/pssr.201600199
- M. Jamiati. JITL 4, 365 (2021). DOI: 10.22051/JITL.2022.35435.1051
- S. Lany, A. Zunger. Phys. Rev. B 78, 235104 (2008). DOI: 10.1103/PhysRevB.72.035215
- S. B. Zhang, S.H. Wei, A. Zunger, H. Katayama-Yoshida. Phys. Rev. B 57, 9642 (1998). DOI: 10.1103/PhysRevB.57.9642
- J.M. Cho, E.J. Bae, J.D. Suh, K.B. Song. J. Nanoelectron. Optoe. 5, 218 (2010). DOI: 10.1166/jno.2010.1097
- A. Rockett, R. W. Birkmire. J. Appl. Phys. 70, R81 (1991). DOI: 10.1063/1.349175
- M. Igalson, H. W. Schock. J. Appl. Phys. 80, 5765 (1996). DOI: 10.1063/1.363631
- D. Schmid, M. Ruckh, F. Grunwald, H.W. Schock. J. Appl. Phys. 73, 2902. (1993). DOI: 10.1063/1.353020
- A. Zakery, S.R. Elliott. J. Non-Cryst. Solids 330, 1 (2003). DOI: 10.1016/j.jnoncrysol.2003.08.064
- U. Rau, J.H. Werner. Appl. Phys. Lett. 84, 3735 (2004). DOI: 10.1063/1.1737071
- T. Feurer, P. Reinhard, E. Avancini, B. Bissig, J. Lockinger, P. Fuchs, R. Carron, T. P. Weiss, J. Perrenoud, S. Stutterheim, S. Buecheler, A.N. Tiwari. Prog. Photovolt. 25, 645 (2017). DOI: 10.1002/PIP.2811
- S. Ouedraogo, M.B. Kebre, A.T. Ngoupo, D. Oubda, F. Zougmore, J.-M. Ndjaka. AMPC 10, 151 (2020). DOI: 10.4236/AMPC.2020.107011
- S. Mandati, B.V. Sarada, S.R. Dey, S.V. Joshi. Semiconductors-Growth and Characterization / Edited by R. Inguanta and C. Sunseri (2018). DOI: 10.5772/intechopen.71857
- M.R. Pallavolu, R.R. Nallapureddy, H.R. Barai, S.W. Joo. Thin Solid Films 709, 138238 (2020). DOI: 10.1016/j.tsf.2020.138238
- G.M. Mikhailov, I.V. Malikov, A.V. Chernykh, V.T. Petrashov. Thin Solid Films 293, 315 (1997). DOI: 10.1016/S0040-6090(96)08953-5
- G. Regmi, S. Velumani. Mat. Sci. Semicond. 137, 106215 (2022) DOI: 10.1016/j.mssp.2021.106215
- N.F. Mott, E.F. Davis. Electronic Processes in Non-Crystalline Materials. Clarendon Press, Oxford (1971). 438 р