Вышедшие номера
Фотоиндуцированные изменения импеданса и проводимости пленок CuInSe2 в зависимости от технологии их синтеза
Романова О.Б. 1, Аплеснин С.С. 1,2, Гаджиев Т.М.3, Ситников M.Н.2, Алиев М.А.3, Никитинский О.С.2, Удод Л.В. 1,2
1Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
2Сибирский государственный университет науки и технологий им. М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
3Институт физики им. Х.И. Амирханова ДФИЦ РАН, Махачкала, Россия
Email: rob@iph.krasn.ru, apl@iph.krasn.ru, gadjiev_timur@mail.ru, kineru@mail.ru, aliev_marat@mail.ru, onikitinsky@yandex.ru, luba@iph.krasn.ru
Поступила в редакцию: 24 октября 2025 г.
В окончательной редакции: 24 октября 2025 г.
Принята к печати: 25 октября 2025 г.
Выставление онлайн: 28 ноября 2025 г.

Методом управляемой селенизации были синтезированы пленки CuInSe2 с халькопиритной структурой. Установлено, что температура селенизации (Tsel) является критическим параметром, определяющим морфологию и электрофизические свойства пленок. Найдена нелинейная вольт-амперная характеристика, обусловленная электрической неоднородностью материала. Определена оптимальная Tsel=350 oC, при которой наблюдается максимальный фотоэффект и наибольшее время релаксации. При Tsel<300 oC обнаружено фотоиндуцированное изменение импеданса. Ключевые слова: поликристаллические пленки, электрофизические свойства, фотопроводимость
  1. T. Nakada, K. Migita, A. Kunioka. Jpn. J. Appl. Phys. 32, L1169 (1993). DOI: 10.1143/jjap.32.l1169
  2. Е.П. Зарецкая, В.Ф. Гременюк, В.Б. Залесский, В.А. Иванов, И.В. Викторов, В.И. Ковалевский, О.В. Ермаков, Т.Р. Леонова. ЖТФ 70, 141 (2000)
  3. J. Ramanujam, U.P. Singh. Energy Environ.Sci. 10, 1306 (2017). DOI: 10.1039/C7EE00826K
  4. X. Liu, Y. Feng, H. Cui, F. Liu, X. Hao, G. Conibeer, D.B. Mitzi, M. Green. Prog. Photovolt. 24, 879 (2016). DOI: 10.1002/pip.2741
  5. J.L. Shay, J.H. Wernick. Ternary Chalcopyrite Semiconductors: Growth, Electronic Properties, and Applications. Pergamon, Press (1975). 244 p. 
  6. P. Jackson, R. Wuerz, D. Hariskos, E. Lotter, W. Witte, M. Powalla. Phys. Stat. Sol. Rapid Res. Lett. 10, 583 (2016). DOI: 10.1002/pssr.201600199
  7. M. Jamiati. JITL 4, 365 (2021). DOI: 10.22051/JITL.2022.35435.1051
  8. S. Lany, A. Zunger. Phys. Rev. B 78, 235104 (2008). DOI: 10.1103/PhysRevB.72.035215 
  9. S. B. Zhang, S.H. Wei, A. Zunger, H. Katayama-Yoshida. Phys. Rev. B 57, 9642 (1998). DOI: 10.1103/PhysRevB.57.9642 
  10. J.M. Cho, E.J. Bae, J.D. Suh, K.B. Song. J. Nanoelectron. Optoe. 5, 218 (2010). DOI: 10.1166/jno.2010.1097
  11. A. Rockett, R. W. Birkmire. J. Appl. Phys. 70, R81 (1991). DOI: 10.1063/1.349175
  12. M. Igalson, H. W. Schock. J. Appl. Phys. 80, 5765 (1996).  DOI: 10.1063/1.363631
  13. D. Schmid, M. Ruckh, F. Grunwald, H.W. Schock. J. Appl. Phys. 73, 2902. (1993). DOI: 10.1063/1.353020
  14. A. Zakery, S.R. Elliott. J. Non-Cryst. Solids 330, 1 (2003). DOI: 10.1016/j.jnoncrysol.2003.08.064
  15. U. Rau, J.H. Werner. Appl. Phys. Lett. 84, 3735 (2004). DOI: 10.1063/1.1737071
  16. T. Feurer, P. Reinhard, E. Avancini, B. Bissig, J. Lockinger, P. Fuchs, R. Carron, T. P. Weiss, J. Perrenoud, S. Stutterheim, S. Buecheler, A.N. Tiwari. Prog. Photovolt. 25, 645 (2017). DOI: 10.1002/PIP.2811
  17. S. Ouedraogo, M.B. Kebre, A.T. Ngoupo, D. Oubda, F. Zougmore, J.-M. Ndjaka. AMPC 10, 151 (2020). DOI: 10.4236/AMPC.2020.107011
  18. S. Mandati, B.V. Sarada, S.R. Dey, S.V. Joshi. Semiconductors-Growth and Characterization / Edited by R. Inguanta and C. Sunseri (2018). DOI: 10.5772/intechopen.71857
  19. M.R. Pallavolu, R.R. Nallapureddy, H.R. Barai, S.W. Joo. Thin Solid Films 709, 138238 (2020). DOI: 10.1016/j.tsf.2020.138238
  20. G.M. Mikhailov, I.V. Malikov, A.V. Chernykh, V.T. Petrashov. Thin Solid Films 293, 315 (1997). DOI: 10.1016/S0040-6090(96)08953-5
  21. G. Regmi, S. Velumani. Mat. Sci. Semicond. 137, 106215 (2022) DOI: 10.1016/j.mssp.2021.106215
  22. N.F. Mott, E.F. Davis. Electronic Processes in Non-Crystalline Materials. Clarendon Press, Oxford (1971). 438 р