Спектры экситонного отражения в тонких слоях WS2
РНФ, Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований малыми отдельными научными группами» (региональный конкурс) , 24-22-20059
СПбНФ, Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований малыми отдельными научными группами» (региональный конкурс) , 24-22-20059
Котова Л.В.
1, Зедоми Т.Э.1, Кочерешко В.П.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия

Email: kotova@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 13 мая 2025 г.
В окончательной редакции: 14 мая 2025 г.
Принята к печати: 14 мая 2025 г.
Выставление онлайн: 21 июня 2025 г.
Исследованы спектры поляризованного отражения света от мультислоев WS2 помещенных на подложку Si/SiO2. Показано, что особенности спектров фотолюминесценции и отражения на энергиях в области 1.9-2.1 eV связаны размерным квантованием поляритонов в слое WS2 толщиной 0.32 mkm. Определены параметры экситонных поляритонов, такие как резонансная частота, сила осциллятора и затухание. При изучении спектральной зависимости круговой поляризации отраженного от образца света обнаружено проявление оптической анизотропии. Ключевые слова: спектроскопия, дихалькогениды переходных металлов, поляризация, экситоны.
- J.A. Wilson, A.D. Yoffe. Adv. Phys. 18, 193--335 (1969)
- S. Manzeli, D. Ovchinnikov, D. Pasquier, O.V. Yazyev, A. Kis. Nat. Rev. Mater. 2, 17033 (2017)
- М.В. Дурнев, М.М. Глазов. УФН 188, 913 (2018)
- X. Duan, H. Zhang. Chem. Rev. 124, 19, 10619--10622, (2024)
- K.F. Mak, C. Lee, J. Hone, J. Shan, T.F. Heinz. Phys. Rev. Lett. 105, 136805 (2010)
- K.F. Mak, J. Shan. Nat. Photonics 10, 216--226 (2016)
- A. Rani, A. Verma, B.C. Yadav. Mater. Adv. 5, 3535--3562 (2024)
- V. Agarwal, K. Chatterjee. Nanoscale 10, 16365--16397 (2018)
- S. Aftab, S. Hussain, F. Kabir, Y. Kuznetsova, A.G. Al-Sehemi. J. Mater. Chem. C 12, 1211--1232 (2024)
- L. Hou, W. Xu, Q. Zhang, V. Shautsova, J. Chen, Yu Shu, X. Li, H. Bhaskaran, J.H. Warner. ACS Appl. Electron. Mater. 4, 3, 1029--1038 (2022)
- T. Devakul, V. Crepel, Y. Zhang, L. Fu. Nat. Commun. 12, 6730 (2021)
- K.F. Mak, J. Shan. Nat. Nanotechnol. 17, 686--695 (2022)
- J. Michl, C.C. Palekar, S.A. Tarasenko, F. Lohof, C. Gies, M. von Helversen, R. Sailus, S. Tongay, T. Taniguchi, K. Watanabe, T. Heindel, B. Rosa, M. Rodel, T. Shubina, S. Hofling, S. Reitzenstein, C. Anton-Solanas, C. Schneider. Phys. Rev. B 105, L241406 (2022)
- Sh. Zhao, Zh. Li, X. Huang, A. Rupp, J. Goser, I.A. Vovk, S.Yu. Kruchinin, K. Watanabe, T. Taniguchi, I. Bilgin, A.S. Baimuratov, A. Hogele. Nat. Nanotechnol. 18, 572--579 (2023)
- L.V. Kotova, M.V. Rakhlin, A.I. Galimov, I.A. Eliseyev, B.R. Borodin, A.V. Platonov, D.A. Kirilenko, A.V. Poshakinskiy, T.V. Shubina. Nanoscale 13, 17566 (2021)
- P.K. Barman, P.V. Sarma, M.M. Shaijumon, R.N. Kini. Sci. Rep. 9, 2784 (2019)
- Д.Д. Белова, Т.Э. Зедоми, Л.В. Котова, В.П. Кочерешко. ПЖТФ 13 (2025). (принята в печать)
- В.А. Киселев, Б.С. Разбирин, И.Н. Уральцев. Письма в ЖЭТФ 18, 504--507 (1973)
- С.И. Пекар. ЖЭТФ 33, 4, 1022--1036 (1957)
- G.A. Ermolaev, D.I. Yakubovsky, Yu.V. Stebunov, A.V. Arsenin, V.S. Volkov. J. Vac. Sci. Technol. B 38, 014002 (2020)
- C. Hsu, R. Frisenda, R. Schmidt, A. Arora, S.M. de Vasconcellos, R. Bratschitsch, H.S.J. van der Zant, A. Castellanos-Gomez. Adv. Optical Mater. 7, 1900239 (2019)
- H.M. Hill, A.F. Rigosi, C. Roquelet, A. Chernikov, T.C. Berkelbach, D.R. Reichman, M.S. Hybertsen, L.E. Brus, T.F. Heinz. Nano Lett. 15, 2992--2997 (2015)
- K. He, N. Kumar, L. Zhao, Z. Wang, K.F. Mak, H. Zhao, J. Shan, Phys. Rev. Lett. 113, 026803 (2014)
- M. Koperski, M.R. Molas, A. Arora, K. Nogajewski, A.O. Slobodeniuk, C. Faugeras, M. Potemski. Nanophotonics 6, 6, 1289--1308 (2017)