Физика твердого тела

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2025
- 1 2 3
2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Влияние толщины монокристаллической пленки SrTiO₃ на ее структуру и диэлектрические параметры в диапазоне 0.3-1.5 THz

Павленко А.В.

^1,2, Николаев Н.А.

³, Стрюков Д.В.

¹, Рыбак А.А.

³, Бобылев В.А.

¹Федеральный исследовательский центр Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия Federal Research Center Southern Scientific Center of the Russian Academy of Sciences, Rostov-on-Don, Russia

Federal Research Center Southern Scientific Center of the Russian Academy of Sciences, Rostov-on-Don, Russia

²Южный федеральный университет, Ростов-на-Дону, Россия Southern Federal University, Rostov-on-Don, Russia

³Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения РАН, Новосибирск, Россия Institute of Automation and Electrometry, Siberian BranchRussian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia

Institute of Automation and Electrometry, Siberian BranchRussian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia

Email: Antvpr@mail.ru, nazar@iae.nsk.su, strdl@mail.ru, a.rybak1@g.nsu.ru, bobylev@sfedu.ru

Поступила в редакцию: 1 октября 2024 г.

В окончательной редакции: 20 октября 2024 г.

Принята к печати: 9 марта 2025 г.

Выставление онлайн: 23 апреля 2025 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

На подложках Al₂O₃(001) с использованием метода ВЧ катодного распыления выращены монокристаллические тонкие пленки титаната стронция (SrTiO₃, STO) различной толщины (h): 60, 120 и 270 nm. С использованием рентгено-дифракционного анализа установлено, что все пленки STO характеризуются псевдокубической ячейкой и имеют близкую деформацию элементарной ячейки. С помощью метода импульсной терагерцовой спектроскопии показано, что в диапазоне частот 0.3-1.5 THz пленки характеризуются практически отсутствием дисперсии действительной (ε') части диэлектрической проницаемости, но по мере снижения h имеет место существенный рост ε'. Ключевые слова: тонкие пленки, диэлектрические характеристики, гетероэпитаксия, STO, импульсная терагерцовая спектроскопия.

L.W. Martin, A.M. Rappe. Nat. Rev. Mater., 2, 16087 (2016). DOI: 10.1038/natrevmats.2016.87
K. Yao, S. Chen, S.C. Lai, Y.M. Yousry. Adv. Sci., 9, 2103842 (2022). DOI: 10.1002/advs.202103842
M. Botea, C. Chirila, G.A. Boni, I. Pasuk, L. Trupina, I. Pintilie, L.M. Hrib, B. Nicu, L. Pintilie. Electronic Materials, 3, 2, 173 (2022). DOI: 10.3390/electronicmat3020015
А.С. Анохин, С.В. Бирюков, Ю.И. Головко, В.М. Мухортов. Наука Юга России, 14, 1, 29 (2018). DOI: 10.23885/2500-0640-2018-14-1-29-34
J. Petzelt, T. Ostapchuk, S. Kamba, I. Rychetsky, M. Savinov, A. Volkov, B. Gorshunov, A. Pronin, S. Hoffmann, R. Waser, J. Lindner. Ferroelectrics, 239, 1, 117 (2000). DOI: 10.1080/00150190008213313
В.А. Гриценко, Д.Р. Исламов. Физика диэлектрических пленок: механизмы транспорта заряда и физические основы приборов памяти (Параллель, Новосибирск, 2017)
M. Kozina, M. Fechner, P. Marsik, T. van Driel, J.M. Glownia, C. Bernhard, M. Radovic, D. Zhu, S. Bonetti, U. Staub, M.C. Hoffmann. Nat. Phys. 15, 387 (2019). DOI: 10.1038/s41567-018-0408-1
R. Kinjo, I. Kawayama, H. Murakami, M. Tonouchi. Advances in Materials Physics and Chemistry, 3, 58 (2013). DOI: 10.4236/ampc.2013.31009
T. Ostapchuk, J. Petzelt, V. Zelezny, A. Pashkin, J. Pokorny, I. Drbohlav, R. Kuzel, D. Rafaja, B.P. Gorshunov, M. Dressel, Ch. Ohly, S. Hoffmann-Eifert, R. Waser. Phys. Rev. B, 66, 235406 (2002). DOI: 10.1103/PhysRevB.66.235406
Naoki Matsumoto, Takashi Fujii, Keisuke Kageyama, Hiroshi Takagi, Takeshi Nagashima, Masanori Hangyo. Jpn. J. Appl. Phys, 48, 09KC11 (2009). DOI: 10.1143/JJAP.48.09KC11
A. Rybak, V. Antsygin, A. Mamrashev, N. Nikolaev. Crystals, 11, 2, 125 (2021). DOI: 10.3390/cryst11020125
В.Д. Анцыгин, A.A. Мамрашев. Автометрия. 53, 6, 92-96 (2017)
I. Fedorov, V. v Zelezn, J. Petzelt, V. Trepakov, M. Jeli nek, V. Trti k, M. v Cerv nansk, V. Studni. Ferroelectrics, 413, 208 (1998). DOI: 10.1080/00150199808014890
P. Kuv zel, F. Kadlec, H. Nv emec, R. Ott, E. Hollmann, N. Klein. Appl. Phys. Lett., 88, 102901 (2006). DOI: 10.1063/1.2183370

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель