Численная модель для исследования 3D-островковых пленок методом электронной Оже-спектроскопии. Система Sm-Si(111)
Ремеле В.Е.
1, Кузьмин М.В.
11Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: m.kuzmin@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 29 октября 2024 г.
В окончательной редакции: 28 декабря 2024 г.
Принята к печати: 5 января 2025 г.
Выставление онлайн: 11 февраля 2025 г.
Предложена модель для расчета интенсивности сигналов в электронной Оже-спектроскопии для тонкопленочных структур, формируемых по механизму Фольмера-Вебера, Странского-Крастанова или близкому к ним. Модель может применяться для обработки экспериментальных результатов и дает возможность получать сведения о плотности и форме трехмерных островков. Проведена ее апробация для реакционно-способной системы Sm-Si(111). Установлено, что в этой системе изменение структуры смачивающего слоя, т. е. переход от реконструкции √3 к реконструкции (5x1) сопровождается увеличением аспектного отношения кристаллитов дисилицида самария более чем в семь раз. Предложено физическое объяснение указанной трансформации. Ключевые слова: тонкие пленки, концентрационная зависимость оже-сигнала, механизм роста, трехмерные островки, смачивающий слой, дисилицид самария.
- C.J. Powell. Microscopy Today 24, 2, 16 (2016)
- W.-C. Lin, W.-C. Lo, J.-X. Li, P.-C. Huang, M.-Y. Wang. ACS Omega 6, 50, 34606 (2021)
- R.A. Vidal, J. Ferron. J. Phys. D: Appl. Phys. 48, 43, 435302 (2015)
- M. Xu, D. Fujita, J. Gao, N. Hanagata. ACS Nano 4, 5, 2937 (2010)
- В.Е. Ремеле, М.А. Митцев, М.В. Кузьмин. ФТТ 65, 9, 1611 (2023)
- Т.В. Крачино, М.В. Кузьмин, М.В. Логинов, М.А. Митцев. ФТТ 40, 2, 371 (1998). [T.V. Krachino, M.V. Kuz'min, M.V. Loginov, M.A. Mittsev. Phys. Solid State 40, 2, 341 (1998).]
- Т.В. Крачино, М.В. Кузьмин, М.В. Логинов, М.А. Митцев. ФТТ 40, 10, 1937 (1998). [T.V. Krachino, M.V. Kuz'min, M.V. Loginov, M.A. Mittsev. Phys. Solid State 40, 10, 1758 (1998).]
- F. Palmino, E. Duverger. Surf. Sci. 603, 17, 2771 (2009)
- E. Ehret, F. Palmino, L. Mansour, E. Duverger, J.-C. Labrune. Surf. Sci. 569, 1-3, 23 (2004)
- C.J. Powell, A. Jablonski. NIST Electron Inelastic-Mean-Free-Path Database, Version 1.2, SRD 71. National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD (2010)
- R. Hofmann, F.P. Netzer, A.J. Patchett, S.D. Barrett, F.M. Leibsle. Surf. Sci. 291, 3, 402 (1993)
- M. Kuzmin, R.E. Perala, R.-L. Vaara, P. Laukkanen, I.J. Vayrynen. J. Cryst. Growth 262, 1-4, 231 (2004).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
