Вышедшие номера
Магнитные и магнитооптические свойства тонких пленок гексаферрита BaM, выращенных на подложках Al2O3(0001) методом лазерной молекулярно-лучевой эпитаксии
Кричевцов Б.Б.1, Коровин А.М.1, Левин А.А.1, Бадалян А.Г.1, Соколов Н.С.1, Телегин А.В.2, Лобов И.Д.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Институт физики металлов им. М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук, Екатеринбург, Россия
Email: boris@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 11 мая 2023 г.
В окончательной редакции: 22 августа 2023 г.
Принята к печати: 30 октября 2023 г.
Выставление онлайн: 6 декабря 2023 г.

Приводятся результаты исследования структурных, магнитных и магнитооптических свойств тонких (толщиной h=50-500 nm) пленок гексаферрита BaM (BaFe12O19), выращенных на подложках сапфира α-Al2O3 (0001) методом лазерной молекулярно-лучевой эпитаксии. Кристаллическая структура выращенных слоев изучалась рентгенодифракционными методами, а статические магнитные свойства с помощью вибрационного магнитометра. Получены спектральные зависимости полярного магнитооптического эффекта Керра (PMOKE), поперечного эффекта Керра (TKE) и магниторефрактивного эффекта (MRES). Ключевые слова: гексаферриты, тонкие пленки, процессы намагничивания, лазерная молекулярно-лучевая эпитаксия.