Физика твердого тела
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Диффузия и полевая десорбция атомов бария с неоднородной поверхности рения
Переводная версия: 10.61011/PSS.2023.08.56584.87 
Государственный бюджет, Государственное задание, 0040-2014-0021
Бернацкий Д.П.
1, Павлов В.Г.
1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
Email: bernatskii@ms.ioffe.ru, vpavlov@ms.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 23 мая 2023 г.
В окончательной редакции: 23 мая 2023 г.
Принята к печати: 13 июня 2023 г.
Выставление онлайн: 11 августа 2023 г.
С помощью полевой десорбционной микроскопии показано, что характер десорбции электрическим полем адсорбированных атомов бария на неоднородной по работе выхода квазисферической поверхности монокристалла рения зависит от скорости диффузии атомов адсорбата по поверхности. При отсутствии диффузии атомов бария по поверхности (T=300 K) наблюдается импульсный характер десорбции. При температуре рения T=700 K на поверхности устанавливается миграционное равновесие, при котором концентрация адатомов бария на гранях монокристалла рения может быть различной. Показано, что в этом случае реализуется стационарный режим полевой десорбции, при котором эмиссия ионов бария идет с граней, обладающих более высокой работой выхода. Ключевые слова:полевая десорбционная микроскопия, миграционное равновесие, монокристалл рения, работа выхода. DOI: 10.21883/FTT.2023.08.56162.87
- J.H. Gross. EJMS 29, 1, 21 (2023)
- З.А. Исаханов, И.О. Косимов, Б.Э. Умирзаков, Р.М. Ёркулов. ЖТФ 90, 1, 123 (2020). [Z.A. Isakhanov, I.O. Kosimov, B.E. Umirzakov, R.M. Erkulov. Tech. Phys. 65, 1, 114 (2020).]
- Ю.П. Маишев. Микроэлектроника 48, 6, 403 (2019). [Y.P. Maishev. Russ. Microelectronics 48, 6, 403 (2019).]
- Д.П. Бернацкий, В.Г. Павлов. В Межвуз. сб. науч. тр. / Под ред. В.М. Самсонова, Н.Ю. Сдобнякова. Твер. гос. ун-т, Тверь 10 (2017). C. 99
- Д.П. Бернацкий, В.Г. Павлов. Письма в ЖТФ 44, 4, 103 (2018). [D.P. Bernatskii, V.G. Pavlov. Tech. Phys. Lett. 44, 2, 178 (2018)]
- Е.В. Клименко, А.Г. Наумовец. ФТТ 13, 1, 33 (1971)
- Э.В. Мюллер, Т.Т. Цонг. Полевая ионная микроскопия, полевая ионизация и полевое испарение. Наука, М. (1980). 218 с. [E.W. Muller, T.T. Tsong. Progress Surf. Sci. 4, 1 (1974).]
- Д.П. Бернацкий, В.Г. Павлов. Изв. РАН. Сер. физ. 73, 5, 713 (2009). [D.P. Bernatskii, V.G. Pavlov. Bull. RAS: Phys. 73, 5, 673 (2009).]
- T. Beach, R. Vanselow. Appl. Phys. 4, 3, 265 (1974)
- D.P. Bernatskii, V.G. Pavlov. Phys. Low-Dim. Struct. 7, 51 (1994)
- А.Н. Добрецов, М.В. Гомоюнова. Эмиссионная электроника. Наука, М. (1966). 559 с
- Д.П. Бернацкий, В.Г. Павлов. В Межвуз. сб. науч. тр. / Под ред. В.М. Самсонова, Н.Ю. Сдобнякова. Твер. гос. ун-т, Тверь 9 (2017). C. 89
- L. Schmidt, R. Gomer. J. Chem. Phys. 42, 10, 3573 (1965)
- В.К. Медведев, И.Н. Яковкин. ФТТ 23, 3, 669 (1981)
- Э.В. Мюллер. УФН LXXVII, 3, 481 (1962)
- A. Dalgarno. Adv. Phys. 11, 44, 281 (1962)
- В.Н. Шредник, Е.В. Снежко. ФТТ 6, 11, 3409 (1964)
- Д.П. Бернацкий, В.Г. CПавлов. В Межвуз. сб. науч. тр. / Под ред. В.М. Самсонова, Н.Ю. Сдобнякова. Твер. гос. ун-т, Тверь 11 (2019). C. 91
- Y. Suchorski. In: Surface Science Tools for Nanomaterials Characterization / Ed. C.S.S.R. Kumar. Springer--Verlag, Berlin--Heidelberg (2015). P. 227-272
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
