Коэффициент теплового расширения (КТР) стекол системы SiO₂-TiO₂ уменьшается по мере увеличения содержания TiO₂. При концентрации диоксида титана примерно 4-6 mol% (в зависимости от способа синтеза стекла) КТР переходит к отрицательным значениям. При его содержании 8-11 mol% происходит девитрификация. В настоящей работе методами фотолюминесценции и отражательной ИК-спектроскопии исследовано поведение ансамбля дефектов строения композита при увеличении содержания TiO₂ до распада стекла на фазы составляющих оксидов. Прецизионные измерения плотности бинарного стекла показали, что при концентрации TiO₂ 7.9 mol% происходит ранее не описанное в литературе падение плотности в результате конверсии стекла в поликристаллическую субстанцию, составленную из кристаллитов SiO₂ и TiO₂. В концентрационной области совместимости оксидов ансамбль точечных дефектов включает центры =SiO-Si= и =Ti-O^-, а также нейтральные кислородные вакансии =Si-Si= и =Si-Ti=. При концентрации TiO₂ 7.9 mol% группы =Si-Ti= исчезают, тогда как "мостики" Si-O-Ti остаются стабильными в кристаллизованном материале. Ключевые слова: стекло SiO₂-TiO₂, точечные дефекты, структурные дефекты, фотолюминесценция, ИК-спектроскопия.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.