Физика твердого тела
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Влияние высокотемпературного отжига на физико-химические свойства систем на основе FeSix
Переводная версия: 10.21883/PSS.2023.03.55594.547 
Ministry of Education and Science of the Russian Federation, Program of Strategic Academic Leadership "Priority-2030", N-487-99
Николичев Д.Е.
1, Крюков Р.Н.
1, Здоровейщев А.В.
1, Кузнецов Ю.М.
1, Здоровейщев Д.А.
1, Дудин Ю.А.
1, Дорохин М.В.
1, Скрылев А.А.
1
1Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия 
Email: nikolitchev@phys.unn.ru, kriukov.ruslan@yandex.ru, zdorovei@nifti.unn.ru, y.m.kuznetsov@unn.ru, daniel.zdorov@gmail.com, ya-dudin@nifti.unn.ru, dorokhin@nifti.unn.ru, skrylev.lexa@mail.ru
Поступила в редакцию: 6 декабря 2022 г.
В окончательной редакции: 28 декабря 2022 г.
Принята к печати: 28 декабря 2022 г.
Выставление онлайн: 11 февраля 2023 г.
Установлено, что физико-химические свойства структур на основе силицидов железа, полученных ионной имплантацией ионов железа в кремний, существенно зависят от времени последующего высокотемпературного отжига. На поверхности образуются объекты с различными геометрическими параметрами и увеличивается шероховатость. Отжиг при 1000oC в атмосфере Ar сопровождается уменьшением содержания химической связи Fe-Si в первые 60 с. Причиной падения теплопроводности при увеличении температуры отжига является формирование силицидных комплексов. Ключевые слова: силицид железа, термоэлектрик, ионная имплантация, химический состав, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. DOI: 10.21883/FTT.2023.03.54752.547
- D.M. Rowe. Thermoelectrics Handbook. Macro to Nano. Boca Raton: CRC/Taylor \& Francis, N.W. (2006). P. 28-91. https://doi.org/10.1201/9781420038903
- Y.C. Dou, X.Y. Qin, D. Li, L.L. Li, T.H. Zou, Q.Q. Wang. J. Appl. Phys. 114, 4, 044906 (2013). https://doi.org/10.1063/1.4817074
- Q. Wan, T.H. Wang, C.L. Lin. Appl. Phys. Lett. 82, 19, 3224 (2003). https://doi.org/10.1063/1.1574845
- K. Yamaguchi, K. Shimura, H. Udono, M. Sasase, H. Yamomoto, S. Shamoto, K. Hojou. Thin Solid Films 508, 1--2, 367 (2006). https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.07.354
- I.A. Tarasov, M.A. Visotin, A.S. Aleksandrovsky, N.N. Kosyrev, I.A. Yakovlev, M.S. Molokeev, A.V. Lukyanenko, A.S. Krylov, A.S. Fedorov, S.N. Varnakov, S.G. Ovchinnikov. J. Magn. Magn. Mater. 440, 15, 144 (2017). https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2016.12.084
- H. Lange. Physica Status Solidi B 201, 1, 3 (1997). DOI: 10.1002/1521-3951(199705)201:1<3::AID-PSSB3>3.0.CO;2-W
- R. Fortulan, S.A. Yamini. Mater. 14, 20, 6059 (2021). DOI: 10.3390/ma14206059
- A.V. Boryakov, S.I. Surodin, R.N. Kryukov, D.E. Nikolichev, S.Yu. Zubkov. J. Electron Spectroscopy. Rel. Phenomena 229, 132 (2018). https://doi.org/10.1016/j.elspec.2017.11.004
- N. Ohtsu, M. Oku, A. Nomura, T. Sugawara, T. Shishido, K. Wagatsuma. Appl. Surf. Sci. 254, 11, 3288 (2008). https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2007.11.005
- A.V. Sidashov, A.T. Kozakov, V.I. Kolesnikov, D.S. Manturov, S.I. Yaresko. J. Friction. Wear 41, 6, 549 (2020). DOI: 10.3103/S1068366620060185
- K. Maize, Y. Ezzahri, X. Wang, S. Singer, A. Majumdar, A. Shakouri. In: Twenty-fourth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium / Eds R. Wilcoxon, R. Collins. IEEE Service Center, Piscataway (2008). P. 185. DOI: 10.1109/STHERM.2008.4509388
- http://www.srim.org
- Е.А. Чусовитин, С.В. Ваванова, И.А. Петрушкин, Н.Г. Галкин, Р.М. Баязитов, Р.И. Баталов, Г.Д. Ивлев, Т.С. Шамирзаев. Хим. физика и мезоскопия 11, 3, 374 (2009)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
