Вышедшие номера
Расчеты из первых принципов и экспериментальное исследование методом спектральной эллипсометрии электронных свойств монокристаллов CdGa2S4
Джахангирли З.А.1,2, Мамедова И.А.1, Гусейнова Ш.Т.1, Керимова Т.Г.1, Сеидов Р.Г.1, Мамедов Н.Т.1, Абдуллаев Н.А.1,2
1Институт физики Национальной академии наук Азербайджана, Баку, Азербайджан
2Бакинский государственный университет, Баку, Азербайджан
Email: abnadir@mail.ru
Поступила в редакцию: 23 сентября 2021 г.
В окончательной редакции: 23 сентября 2021 г.
Принята к печати: 6 ноября 2021 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2021 г.

Электронные свойства монокристаллов CdGa2S4 исследованы экспериментально с использованием спектральной эллипсометрии, а также теоретически из первых принципов с использованием теории функционала плотности (DFT). С помощью эллипсометрических исследований в интервале энергий 0.7-6.5 eV определены мнимые и действительные части диэлектрической функции вдоль и перпендикулярно оптической оси, дисперсия коэффициентов преломления, экстинкции и поглощения. Оценена ширина прямой запрещенной зоны. Зонная структура, происхождение энергетических состояний, оптические функции и проецированные на атомы парциальные плотности состояний (PDoS) определены расчетами из первых принципов. Теоретически рассчитанные результаты сравнены с экспериментальными данными настоящей работы, полученными методом спектральной эллипсометрии. Ключевые слова: спектральная эллипсометрия, эллипсометрические углы, диэлектрическая функция, коэффициент преломления, коэффициент экстинкции, зона Бриллюэна, зонная структура.
  1. А.Н. Георгобиани, С.И. Радауцан, И.М. Тигиняну. ФТП 19, 2, 193 (1985)
  2. H. Park, Y.-S. Kim, S.-C. Hyun, C.-D. Kim, M.-S. Jin, D.-T. Kim, K. Jang, H.-G. Kim, W.-T. Kim. Phys. Status Solid C 3, 8, 2915 (2006)
  3. В.В. Бадиков, И.Н. Матвеев, С.M. Пшеничников, О.В. Рычик, Н.К. Троценко, Н.Д. Устинов. Квантовая электрон. 8, 4, 910 (1981). [Sov. J. Quantum Electronics 11, 4, 548 (1981)]
  4. P. Kumar, J. Sahariya, A. Soni, K.C. Bhamu. Mater. Sci. Forum 900, 69 (2017)
  5. Т.Г. Керимова, Ш.С. Мамедов, И.А. Мамедова. Неорган. материалы 29, 7, 902 (1993)
  6. H. Park, C.-D. Kim. J. Korean Phys. Soc. 45, 2, 427 (2004)
  7. Y.-S. Kim, H. Park, C.-D. Kim. J. Korean Phys. Soc. 41, 3, 349 (2002)
  8. V.L. Panyutin, B.E. Ponedelnikov, A.E. Rozenson, V.I. Chizhikov. Sov. Phys. J. 22, 8, 857 (1979)
  9. X. Jiang, W.R.L. Lambrecht. Phys. Rev. B 69, 3, 035201 (2004)
  10. S.H. Ma, Z.Y. Jiao, X.Z. Zhang. J. Mater. Sci. 47, 8, 3849 (2012)
  11. S. Mishraa, B. Ganguli. 8.811 arXiv:1508.00407v1[cond-mat.mtrl-sci], 32 c. (2015)
  12. Г.Г. Гусейнов, Т.Г. Керимова, Р.Х. Нани. Изв. АН Аз. ССР 4, 59 (1980)
  13. H. Hahn, G. Frank, W. Kligler, A.D. Storger. Z. Anorg. Allg. Chem. 279, 241 (1955)
  14. D. Errandonea, R.S. Kumar, F.J. Manjon, V.V. Ursaki, I.M. Tiginyanu. J. Appl. Phys. 104, 6, 063524 (2008)
  15. З.А. Джахангирли, Т.Г. Керимова, И.А. Мамедова, Н.А. Абдуллаев, Н.Т. Мамедов. ФТТ 60, 11, 2265 (2018)
  16. H. Fujiwara. Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications. John Wiley and Sons, NJ, USA (2007). Ch. 1.3, p. 5
  17. А.В. Ржанов, К.К. Свиташев, А.И. Семененко, Л.В. Семененко, В.К. Соколов. Основы эллипсометрии. Наука, Новосибирск (1979). Гл. 1.4. С. 46
  18. P. Hohenberg, W. Kohn. Phys. Rev. B 136, 3B, 864 (1964)
  19. O.K. Andersen. Phys. Rev. B 12, 8, 3060 (1975)
  20. P. Blaha, K. Schwarz, G.K.H. Madsen, D. Kvasnicka, J. Luitz. WIEN2k, An Augmented Plane Waves + Local Orbitals Program for Calculating Crystal Properties, rev. ed. Vienna University of Technology, Vienna (2008)
  21. J.P. Perdew, A. Zunger. Phys. Rev. B 23, 10, 5048 (1981)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.