Вышедшие номера
Изменение структуры и люминесцентных свойств пленок ZnSe и ZnCdSe при облучении электронным пучком
Кравец В.A.1, Дементьева Е.В.1, Ситникова А.А.1, Седова И.В.1, Заморянская М.В.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: vladislav2033@yandex.ru
Поступила в редакцию: 7 октября 2021 г.
В окончательной редакции: 7 октября 2021 г.
Принята к печати: 10 октября 2021 г.
Выставление онлайн: 16 ноября 2021 г.

Исследовались слои ZnSe и ZnCdxSe (x ~ 0.32-0.35), выращенные на подложках GaAs (001) методом молекулярно-пучковой эпитаксии. Изучалось влияние электронного пучка на изменения кристаллической структуры изучаемых образцов и люминесцентные свойства. Исследования проводились методами катодолюминесценции, просвечивающей электронной микроскопии и методом рентгеноспектрального микроанализа. Установлено, что в результате облучения образцов в просвечивающем электронном микроскопе происходит отжиг дефектов упаковки, сопровождаемый образованием преципитатов ZnO c гексагональной кристаллической структурой. Облучение образцов в катодолюминесцентной установке приводит к уменьшению интенсивности катодолюминесценции исследуемых слоев ZnSe и ZnCdxSe из-за радиационно-стимулированных процессов деградации. Ключевые слова: точечные дефекты, облучение электронным пучком, катодолюминесценция, структурные изменения.