Вышедшие номера
Home » Физика твердого тела » Год 2021, выпуск 8 » Статья стр. 1177
<<<>>>
Незаполненные электронные состояния ультратонких пленок кватерфенила на поверхностях послойно сформированного CdS и окисленного кремния
DOI: 10.21883/FTT.2021.08.51175.071
Российский научный фонд, 19-13-00021
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), а, 20-03-00026
Комолов А.С. 1, Лазнева Э.Ф. 1, Герасимова Н.Б.1, Соболев В.С.1, Жижин Е.В.1, Пшеничнюк С.А. 2, Асфандиаров Н.Л. 2, Handke B. 3
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
2Институт физики молекул и кристаллов Уфимского федерального исследовательского центра РАН, Уфа, Россия
3AGH University of Science and Technology, Faculty of Material Science and Ceramics, 30-059 Krakow, Poland
Email: a.komolov@spbu.ru
Поступила в редакцию: 1 апреля 2021 г.
В окончательной редакции: 3 апреля 2021 г.
Принята к печати: 3 апреля 2021 г.
Выставление онлайн: 13 мая 2021 г.
PDF версия
Приведены результаты исследования незаполненных электронных состояний и формирования пограничного потенциального барьера при термическом вакуумном осаждении ультратонких пленок кремния 4-кватерфенила на поверхности CdS и на поверхности окисленного кремния. Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS) установлено, что атомные концентрации Cd и S являлись одинаковыми в составе поверхности слоя CdS толщиной 75 nm, сформированного методом молекулярного наслаивания (ALD - atomic layer deposition). Исследования электронных характеристик пленок 4-кватерфенила, толщиной до 8 nm, проводили в процессе их осаждения на поверхность сформированного слоя CdS и на поверхность окисленного кремния методом спектроскопии полного тока (TCS) в энергетическом диапазоне от 5 до 20 eV выше EF. Установлено энергетическое расположение основных максимумов тонкой структуры спектров полного тока (ТССПТ) пленок 4-кватерфенила. Расположение максимумов воспроизводимо при использовании двух выбранных материалов подложек. Установлено незначительное снижение работы выхода, от 4.2 до 4.1 eV, в процессе термического осаждения 4-кватерфенила на поверхность CdS. При осаждении пленки 4-кватерфенила на поверхность окисленного обнаружено повышение значений работы выхода от 4.2 до 4.5 eV. Обсуждаются возможные механизмы физико-химического взаимодействия между пленкой 4-кватерфенила и поверхностью исследованных подложек, приводящие к различию наблюдаемых значений работы выхода пленок на этих подложках. Ключевые слова: олигомеры фенилена, 4-кватерфенил, ультратонкие пленки, CdS-метод молекулярного наслаивания (ALD - atomic layer deposition), электронные свойства, низкоэнергетическая электронная спектроскопия, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS).
  1. A.A. Attia, M.M. Saadeldin, H.S. Soliman, A.-S. Gadallah, K. Sawaby. Opt. Mater. 62, 711 (2016)
  2. M.S. Kazantsev, V.G. Konstantinov, D.I. Dominskiy, V.V. Bruevich, V.A. Postnikov, Y.N. Luponosov, V.A. Tafeenko, N.M. Surin, S.A. Ponomarenko, D.Y. Paraschuk. Synt. Met. 232, 60 (2017)
  3. В.А. Постников, М.С. Лясникова, А.А. Кулишов, В.В. Гребенев, О.В. Борщев. ЖФХ 93, 1362 (2019)
  4. V.A. Postnikov, Y.I. Odarchenko, A.V. Iovlev, V.V. Bruevich, A.Y. Pereverzev, L.G. Kudryashova, V.V. Sobornov, L. Vidal, D. Chernyshov, Y.N. Luponosov, O.V. Borshchev, N.M. Surin, S.A. Ponomarenko, D.A. Ivanov, D.Y. Paraschuk. Cryst. Growth Des. 14, 1726 (2014)
  5. L.G. Kudryashova, M.S. Kazantsev, V.A. Postnikov, V.V. Bruevich, Y.N. Luponosov, N.M. Surin, O.V. Borshchev, S.A. Ponomarenko, M.S. Pshenichnikov, D.Y. Paraschuk. ACS Appl. Mater. Interfaces 8, 10088 (2016)
  6. А.Н. Алешин, И.П. Щербаков, Д.А. Кириленко, Л.Б. Матюшкин, В.А. Мошников. ФТТ 61, 388 (2019)
  7. П.С. Крылов, А.С. Берестенников, С.А. Фефелов, А.С. Комолов, А.Н. Алешин. ФТТ 58, 2476 (2016)
  8. A.A.A. Darwish. Infrared Phys. Technology 82, 96 (2017)
  9. P.G. Schroeder, M.W. Nelson, B.A. Parkinson, R. Schlaf. Surf. Sci. 459, 349 (2000)
  10. P. Shen, M. Huang, J. Qian, J. Li, S. Ding, X.-S. Zhou, B. Xu, Z. Zhao, B.Z. Tang. Angew. Chem. Int. Ed. 59, 4581 (2020)
  11. J.R. Bakke, H.J. Jung, J.T. Tanskanen, R. Sinclair, S.F. Bent. Chem. Mater. 22, 4669 (2010)
  12. N.P. Dasgupta, X. Meng, J.W. Elam, A.B.F. Martinson. Acc. Chem. Res. 48, 341 (2015)
  13. H. Frankenstein, C.Z. Leng, M.D. Losego, G.L. Frey. Organic Electron. 64, 37 (2019)
  14. A.S. Komolov, E.F. Lazneva, N.B. Gerasimova, Yu.A. Panina, V.S. Sobolev, A.V. Koroleva, S.A. Pshenichnyuk, N.L. Asfandiarov, A. Modelli, B. Handke, O.V. Borshchev, S.A. Ponomarenko. J. Electron Spectr. Rel. Phenom. 235, 40 (2019)
  15. А.С. Комолов. ЖТФ 76, 13 (2006)
  16. A.S. Komolov, E.F. Lazneva, S.N. Akhremtchik, N.S. Chepilko, A.A. Gavrikov. J. Phys. Chem. C 117, 24, 12633 (2013)
  17. А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, Н.Б. Герасимова, Ю.А. Панина, А.В. Барамыгин, Г.Д. Зашихин, С.А. Пшеничнюк. ФТТ 58, 367 (2016)
  18. S.A. Pshenichnyuk, A. Modelli, E.F. Lazneva, A.S. Komolov. J. Phys. Chem. A 120, 2667 (2016)
  19. S.A. Pshenichnyuk, A. Modelli, N.L. Asfandiarov, E.F. Lazneva, A.S. Komolov. J. Chem. Phys. 151, 214309 (2019)
  20. С.А. Кукушкин, А.В. Осипов, А.И. Романычев. ФТТ 58, 1398 (2016)
  21. B. Handke, L. Klita, W. Niemiec. Surf. Sci. 666, 70 (2017)
  22. И.А. Аверин, А.А. Карманов, В.А. Мошников, И.А. Пронин, С.Е. Игошина, А.П. Сигаев, Е.И. Теруков. ФТТ 12, 2304 (2015)
  23. I.B. Olenych, O.I. Aksimentyeva, L.S. Monastyrskii, Y.Y. Horbenko, M.V. Partyka, A.P. Luchechko, L.I. Yarytska. Nanoscale Res. Lett. 11, 43 (2016)
  24. L. Grzadziel, M. Krzywiecki, G. Genchev, A. Erbe. Synth. Met. 223, 199 (2017).
  25. F. Moulder, W.F. Stickle, P.E. Sobol, K. Bomben. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. 2nd ed. / Ed. J. Chastain. Eden Prairie: Perkin-Elmer Corporation (Physical Electronics) (1992)
  26. A.S. Komolov, E.F. Lazneva, S.N. Akhremtchik. Appl. Surf. Sci. 256, 2419 (2010)
  27. I. Bartos. Progr. Surf. Sci. 59, 197 (1998)
  28. J. Hwang, A. Wan, A. Kahn. Mater. Sci. Eng. R 64, 1 (2009)
  29. A.S. Komolov, Y.M. Zhukov, E.F. Lazneva, A.N. Aleshin, S.A. Pshenichnuk, N.B. Gerasimova, Yu.A. Panina, G.D. Zashikhin, A.V. Baramygin. Mater. Des. 113, 319 (2017)
  30. A.S. Komolov, S.N. Akhremtchik, E.F. Lazneva. Spectrochim. Acta A 798, 708 (2011)
  31. A.S. Komolov, P.J. Moeller. Colloids and Surfaces A 239, 49 (2004)
  32. A.S. Komolov, P.J. Moeller. Appl. Surf. Sci. 212, 497 (2003)
  33. А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, Н.Б. Герасимова, В.С. Соболев, Ю.А. Панина, С.А. Пшеничнюк, Н.Л. Асфандиаров, B. Handke. ФТТ 62, 1245 (2020)
  34. W. Belza, K. Szajna, M. Kratzer, D. Wrana, K. Cieslik, M. Krawiec, C. Teichert, F. Krok. J. Phys. Chem. C 124, 5681 (2020)
  35. A.L. Shu, W.E. McClain, J. Schwartz, A. Kahn. Organic Electron. 15, 2360 (2014)
  36. S. Braun, W. Salaneck, M. Fahlman. Adv. Mater. 21, 1450 (2009)
  37. А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, Н.Б. Герасимова, В.С. Соболев, С.А. Пшеничнюк, Н.Л. Асфандиаров, В.А. Крайкин, B. Handke. ФТТ 63, 299 (2021)
  38. M. Gruenewald, L.K. Schirra, P. Winget, M. Kozlik, P.F. Ndione, A.K. Sigdel, J.J. Berry, R. Forker, J.-L. Bredas, T. Fritz, O.L.A. Monti. J. Phys. Chem. C 119, 4865 (2015).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme