Вышедшие номера
Структурные характеристики выращенных методом RF-катодного напыления тонких пленок Sr0.61Ba0.39Nb2O6/ MgO(001)
Переводная версия: 10.1134/S1063783421020219
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, госзадание ЮНЦ РАН, 1201354247
Совет по грантам Президента Российской Федерации для государственной поддержки молодых российских ученых и по государственной поддержке ведущих научных школ Российской Федерации, грант Президента РФ, МК-678.2020.2
Павленко А.В. 1,2, Стрюков Д.В. 1, Ивлева Л.И. 3, Ковтун А.П. 1, Жидель К.М. 2, Лыков П.А. 3
1Федеральный исследовательский центр Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия
2Научно-исследовательский институт физики Южного федерального университета, Ростов-на-Дону, Россия
3Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, Москва, Россия
Email: tolik_260686@mail.ru, strdl@mail.ru, ivleva@lst.gpi.ru, kovtun.ap@mail.ru, karinagidele@gmail.com
Поступила в редакцию: 24 августа 2020 г.
В окончательной редакции: 24 августа 2020 г.
Принята к печати: 25 августа 2020 г.
Выставление онлайн: 9 ноября 2020 г.

Методом RF-катодного распыления в атмосфере кислорода получены тонкие пленки конгруэнтного состава системы твердых растворов ниобатов бария-стронция Sr0.61Ba0.39Nb2O6 (SBN : 61) толщинами от 30 до 630 nm на подложке MgO(001). По данным рентгендифракционного анализа установлено, что пленки являются беспримесными и монокристаллическими. В пленках практически отсутствуют деформации элементарной ячейки в плоскости сопряжения и присутствуют растягивающие напряжения в направлении нормали к поверхности, которые увеличиваются при уменьшении толщины пленки. Диэлектрические измерения свидетельствуют о высокой управляемости в пленках. Ключевые слова: тонкие пленки, ниобат бария-стронция, SBN, деформация элементарной ячейки.
  1. J. Schefer, D. Schaniel, V.Y. Pomjakushin, U. Stuhr, V. Petricek, T. Woike, M. Wohlecke, M. Imlau. Phys. Rev. B 74, 134103 (2006)
  2. T. Woike, V. Petricek, M. Dusek, N.K. Hansen, P. Fertey, C. Lecomte, A.V. Arakcheeva, G. Chapuis, M. Imlau, R. Pankrath. Acta Crystallograph. B 59, 28 (2003)
  3. Ю.С. Кузьминов. Сегнетоэлектрические кристаллы для управления лазерным излучением. Наука, М. (1982). 400 с
  4. P.R. Willmott, R. Herger, B.D. Patterson, R. Windiks. Phys. Rev. B 71, 144114 (2005)
  5. M. Cuniot-Ponsard, J.M. Desvignes, B. Ea-Kim, E. Leroy. J. Appl. Phys. 93, 1718 (2003)
  6. Y.B. Yao, W.C. Liu, C.L. Mak, K.H. Wong, H.L. Tam, K.W. Cheah. Thin Solid Films 519, 52 (2010)
  7. Д.В. Стрюков, В.М. Мухортов, С.В. Бирюков, Ю.И. Головко. Наука Юга России 13, 1, 18 (2017)
  8. Д.В. Стрюков, А.В. Павленко. ПЖТФ 45, 23 (2019)
  9. В.Б. Широков, А.В. Павленко, Д.В. Стрюков, Ю.В. Ревинский. ФТТ 60, 993 (2018)
  10. А.В. Павленко, Ю.А. Кудрявцев, Д.В. Стрюков, А.С. Анохин, А.П. Ковтун, Б.Я. Севастьянов. Неорган. материалы. 55, 187 (2019)
  11. A.R. Stokes, A.J.C. Wilson. Proc. Phys. Soc. 56, 174 (1944)
  12. M. Volmer, A. Weber. Z. Phys. Chem. 119, 277 (1926)
  13. В.М. Мухортов, Ю.И. Юзюк. Гетероструктуры на основе наноразмерных сегнетоэлектрических пленок: получение, свойства и применение. Изд-во ЮНЦ РАН, Ростов н/Д (2008) 224 с
  14. В.В. Осипов, Д.А. Киселев, Е.Ю. Каптелов, С.В. Сенкевич, И.П. Пронин. ФТТ 57, 9, 1748 (2015)
  15. Т.С. Черная, Б.А. Максимов, Т.Р. Волк, Л.И. Ивлева, В.И. Симонов. ФТТ 42, 1668 (2000)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.