Вышедшие номера
Диодные гетероструктуры с ферромагнитным слоем (Ga, Mn)As
Переводная версия: 10.1134/S1063783420030270
Российский научный фонд, 19-19-00545
грант президента РФ, МД-1708.2019.2.
Звонков Б.Н.1, Вихрова О.В. 1, Данилов Ю.А.1, Дорохин М.В. 1, Калентьева И.Л. 1, Кудрин А.В. 1, Здоровейщев А.В. 1, Ларионова Е.А.1, Ковальский В.А.2, Солтанович О.А.2
1Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
2Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук, Черноголовка, Россия
Email: zvonkov@nifti.unn.ru, vikhrova@nifti.unn.ru, danilov@nifti.unn.ru, dorokhin@nifti.unn.ru, istery@rambler.ru, kudrin@nifti.unn.ru, zdorovei@gmail.com
Поступила в редакцию: 31 октября 2019 г.
Выставление онлайн: 18 февраля 2020 г.

Изготовлены и исследованы диодные гетероструктуры p-(Ga, Mn)As/n-InGaAs/n+-GaAs, отличающиеся толщиной (от 5 до 50 nm) слоя разбавленного магнитного полупроводника (Ga, Mn)As. Обнаружен эффект отрицательного магнетосопротивления, достигающий 6-8% в магнитном поле 3600 Oe, сохраняющийся до температур 70-80 K и связанный с уменьшением рассеяния носителей заряда благодаря магнитному упорядочению в слое (Ga, Mn)As. Зависимость магнетосопротивления от напряжения прямого смещения является немонотонной, причем максимум магнетосопротивления и диапазон напряжений его наблюдения зависят от толщины слоя (Ga, Mn)As. Магнитополевые зависимости магнетосопротивления имеют гистерезисный вид, обусловленный влиянием напряжений растяжения в выращенном поверх релаксированного InGaAs слое (Ga, Mn)As на появление компоненты намагниченности, перпендикулярной поверхности структуры. Ключевые слова: импульсное лазерное нанесение, диодная гетероструктура, ферромагнитный полупроводник, отрицательное магнетосопротивление.