Вышедшие номера
Деформационное уширение и тонкая структура спектральных линий в оптических спектрах диэлектрических кристаллов, содержащих редкоземельные ионы
Переводная версия: 10.1134/S1063783419050020
Абишев Н.М.1, Байбеков Э.И.1, Малкин Б.З.1, Попова М.Н.2, Пыталев Д.С.2, Климин С.А.2
1Казанский (Приволжский) федеральный университет, Казань, Россия
2Институт спектроскопии РАН, Троицк, Москва, Россия
Email: abishevnm@gmail.com
Выставление онлайн: 19 апреля 2019 г.

Разработана методика расчета формы спектральных линий в оптических спектрах редкоземельных ионов в кристаллах с учетом случайных деформаций упруго анизотропной кристаллической решетки, обусловленных точечными дефектами. Функция распределения компонент тензора случайных деформаций в случае малой концентрации дефектов получена в виде обобщенного шестимерного распределения Лоренца. Параметры функции распределения представлены интегральными функционалами компонент тензора деформации на сфере единичного радиуса, содержащей в центре изотропный точечный дефект. Выполнены численные расчеты тензоров деформаций, индуцированных точечными дефектами, и параметров функций распределения случайных деформаций в кристаллах LiLuF4 и LaAlO3. Вычисленная огибающая с дублетной структурой, отвечающая синглет-дублетному переходу Gamma2(3H4)-> Gamma34(3H5) в спектре поглощения ионов Pr3+ в кристалле LiLuF4, хорошо согласуется с данными измерений. Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (грант N 17-02-00403, Н.М.А., Э.И.Б., Б.З.М.) и программы президиума РАН 1.7 "Актуальные проблемы фотоники, зондирование неоднородных сред и материалов" (М.Н.П., Д.С.П., С.А.К.).