Вышедшие номера
Влияние размерных эффектов на электронную структуру гексагонального теллурида галлия
Переводная версия: 10.1134/S1063783418090172
Томский государственный университет, Программа повышения конкурентоспособности ТГУ, 8.2.18.2017
Кособуцкий А.В. 1, Саркисов С.Ю. 2
1Кемеровский государственный университет, Кемерово, Россия
2Национальный исследовательский Томский государственный университет, Томск, Россия
Email: kosobutsky@kemsu.ru, sarkisov@mail.tsu.ru
Поступила в редакцию: 28 февраля 2018 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2018 г.

С использованием методов теории функционала плотности выполнены расчеты электронной зонной структуры слоистого полупроводника GaTe гексагональной модификации. Структурные параметры объемного кристалла с симметрией beta-политипа определены с учетом ван-дер-ваальсовых взаимодействий и согласуются с экспериментальными данными для поликристаллических пленок в пределах 2%. Получены оценки положения экстремумов верхней валентной зоны и нижней зоны проводимости относительно уровня вакуума для объемного beta-GaTe и для ультратонких пластин с числом элементарных слоев от 1 до 10, что соответствует диапазону толщины 0.5-8 nm. Расчеты показывают, что гексагональный GaTe является непрямозонным полупроводником с шириной запрещенной зоны, варьирующейся от 0.8 eV в объемном материале до 2.3 eV в монослое. Работа поддержана грантом N 8.2.18.2017 в рамках Программы повышения конкурентоспособности ТГУ.