Вышедшие номера
Моделирование структурного состояния аморфных фаз наноразмерного SiO2, синтезированного различными методами
Абзаев Ю.А.1, Сызранцев В.В.2,3, Бардаханов С.П.2,3
1Томский государственный архитектурно-строительный университет, Томск, Россия
2Бурятский государственный университет, Улан-Удэ, Россия
3Институт теоретической и прикладной механики им. С.А. Христиановича СО РАН, Новосибирск, Россия
Email: abzaev2010@yandex.ru, vvveliga@mail.ru, bard@itam.nsc.ru
Поступила в редакцию: 29 ноября 2016 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2017 г.

Методами рентгеноструктурного анализа и имитационного моделирования исследовано структурное состояние наноразмерного SiO2. Проведено сравнение наночастиц аэросила и наночастиц, синтезированных методом испарения электронным пучком. Показано, что наночастицы всех образцов находятся в аморфном состоянии. Методом молекулярной динамики проведено моделирование аморфного состояния элементарной ячейки фазы SiO2. В результате полнопрофильного уточнения параметров модельной фазы SiO2 (метод Ритвельда) установлена полная структурная информация при вариации удельной поверхности. Определены параметры примитивных ячеек, пространственное распределение атомов, занятость узлов ячеек. Показано, что в наночастицах аэросила с ростом энергии связи атомов в ячейке удельная поверхность снижается, а в наночастицах таркосила возрастает. Работа выполнена в рамках проектной части государственного задания в сфере научной деятельности (задание N 16.1930.2014/К). DOI: 10.21883/FTT.2017.09.44860.428