Электронно-микроскопическое исследование кинетики слоевой и островковой кристаллизации аморфных пленок V2O3, осажденных импульсным лазерным напылением
Багмут А.Г.1
1Национальный технический университет "Харьковский политехнический институт", Харьков, Украина
Email: Bagmut@kpi.Kharkov.ua
Поступила в редакцию: 10 октября 2016 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2017 г.
Проведено электронно-микроскопическое исследование кинетики слоевой и островковой кристаллизации аморфных пленок V2O3, осажденных лазерным распылением V в атмосфере кислорода. Кристаллизацию инициировали воздействием электронного луча на аморфную пленку в колонне микроскопа. Кинетические кривые строили на основании покадрового анализа видеофильма, снятого в процессе кристаллизации пленки. Установлено, что при слоевой кристаллизации имеет место квадратичная зависимость доли кристаллической фазы x от времени t. При островковой кристаллизации зависимость x от t экспоненциальная. Анализ кинетических кривых островковой кристаллизации проведен на основе alpha-варианта модели Колмогорова. Типу кристаллизации ставится в соответствие безразмерная относительная единица длины delta0, равная отношению характерной единицы длины к параметру, характеризующему элементарную ячейку кристалла. Для слоевой кристаллизации delta0~4300-4700. Для мелкокристаллической островковой кристаллизации delta0~110. DOI: 10.21883/FTT.2017.06.44493.376
- D. Grieger, F. Lechermann. Phys. Rev. B 90, 115115 (2014)
- Y. Guo, S.J. Clark, J. Robertson. J. Chem. Phys. 140, 054702 (2014)
- B.S. Allimi, S.P. Alpay, D. Goberman, T. Huang, J.I. Budnick, D.M. Pease, A.I. Frenkel. J. Mater. Res. 22, 2825 (2007)
- J. Sakai, P. Limelette, H. Funakubo. Appl. Phys. Lett. 107, 241901 (2015)
- A.G. Bagmut, V.A. Zhuchkov, V.Yu. Kоlоsоv, V.М. Kosеvich, D.V. Melnichenko. Crystallography Rep. 51, S150 (2006)
- А.Г. Багмут. Письма в ЖТФ 38, 79 (2012)
- А.Г. Багмут. Электронная микроскопия пленок, осажденных лазерным испарением. Изд-во НТУ "ХПИ", Харьков (2014). 304 с
- A.G. Bagmut. J. Surf. Invest. 7, 884 (2013)
- С.М. Жарков, Л.И. Квеглис. ФТТ 46, 938 (2004)
- А.Г. Багмут, В.М. Береснев. ФТТ 59, 144 (2017)
- JCPDS Powder Diffraction File Card No. 26-0278 (International Centre for Diffraction Data, Swarthmore, PA, 1996)
- G. Ruitenberg, A.K. Petford-Long, R.C. Doole. J. Appl. Phys. 92, 3116 (2002)
- Э.Ш. Гаджиев, А.И. Мададзаде, Д.И. Исмаилов. ФТП 43, 1534 (2009)
- А.Н. Колмогоров. Изв. АН СССР. Сер. мат. 3, 355 (1937)
- В.З. Беленький. Геометрико-вероятностные модели кристаллизации. Феноменологический подход. Наука, Москва (1980), 84 с
- JCPDS Powder Diffraction File Card N 27-0997 (International Centre for Diffraction Data, Swarthmore, PA, 1996)
- U. Koster, U. Herold. Glassy Metals I. Ionic Structure, Electronic Transport and Crystallization. Springer-Verlag, N.Y. (1981). 376 p
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
