Издателям
Вышедшие номера
Электронная структура зоны проводимости пограничной области сверхтонких пленок замещенных перилен-дикарбоксимидов и поверхности оксида германия
СПбГУ, 11.38.219.2014
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), 14-03-00087
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), 15-29-05786
Комолов А.С. 1, Лазнева Э.Ф. 1, Герасимова Н.Б. 1, Панина Ю.А. 1, Барамыгин А.В. 1, Пшеничнюк С.А. 2,1
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
2Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра РАН, Уфа, Россия
Email: a.komolov@spbu.ru
Поступила в редакцию: 3 марта 2016 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2016 г.

Приведены результаты исследования электронной структуры зоны проводимости и пограничного потенциального барьера в процессе формирования интерфейсов сверхтонких пленок диоктил-замещенного перилен-дикарбоксимида (PTCDI-С8) и дифенил-замещенного перилен-дикарбоксимида (PTCDI-Ph) с поверхностью окисленного германия. Экспериментальные результаты получены методом регистрации отражения от поверхности тестирующего пучка низкоэнергетических электронов (very low energy electron diffraction, VLEED) в режиме спектроскопии полного тока (СПТ) в энергетическом диапазоне от 5 до 20 eV выше EF. Расположение максимумов тонкой структуры спектров полного тока (ТССПТ) пленок PTCDI-С8 и PTCDI-Ph существенно различается в энергетическом диапазоне от 9 до 20 eV выше EF, что следует связывать с различием заместителей в выбранных молекулах, диоктил- и дифенил- соответственно. Вместе с этим расположение низкоэнергетических максимумов ТССПТ при энергии 6-7 eV выше EF для случаев пленок PTCDI-С8 и PTCDI-Ph практически совпадает. Сделано предположение, что эти максимумы обусловлены электронными состояниями периленового остова исследованных молекул. Проведен анализ процесса формирования пограничных потенциальных барьеров пленок PTCDI-С8 и PTCDI-Ph с поверхностью окисленного германия, и обнаружено, что значения работы выхода поверхности, Evac-EF, мало отличаются от 4.6±0.1 eV во всем диапазоне толщин органических покрытий от 0 до 6 nm. Работа выполнена при поддержке научного гранта СПбГУ 11.38.219.2014, РФФИ (14-03-00087 и 15-29-05786). В работе использовали оборудование научного парка СПбГУ "Физические методы исследования поверхности".
  1. M. Gruenewald, L.K. Schirra, P. Winget, M. Kozlik, P.F. Ndione, A.K. Sigdel, J.J. Berry, R. Forker, J.-L. Bredas, T. Fritz, O.L.A. Monti. J. Phys. Chem. C 119, 4865 (2015)
  2. A.V. Mumyatov, L.I. Leshanskaya, D.V. Anokhin, N.N. Dremova, P.A. Troshin. Mendeleev Commun. 24, 306 (2014)
  3. L.-N. Nguyen, S.K. Pradhan, C.-N. Yen, M.-C. Lin, C.-H. Chen, C.S. Wu, K.-S. Chang-Liao, M.-T. Lin, C.-D. Chen. Appl. Phys. Lett. 103, 183 301 (2013)
  4. И.А. Аверин, А.А. Карманов, В.А. Мошников, И.А. Пронин, С.Е. Игошина, А.П. Сигаев, Е.И. Теруков. ФТТ 12, 2304 (2015)
  5. A.A. Ahmad Zebari, M. Kolmer, J.S. Prauzner-Bechcicki. Appl. Surf. Sci. 332, 403 (2015)
  6. А.С. Комолов. ЖТФ 74/5, 113 (2004)
  7. P.A. Troshin, D.K. Susarova, E.A. Khakina, A.A. Goryachev, O.V. Borshchev, S.A. Ponomarenko, V.F. Razumov, N. Serdar Sariciftci. J. Mater. Chem. 22, 18 433 (2012)
  8. J.-L. Bredas, A.J. Heeger. Chem. Phys. Lett. 217, 507 (1994)
  9. N. Hiroshiba, R. Hayakawa, T. Chikyow. Phys. Chem. Chem. Phys. 13, 6280 (2011)
  10. F. Wurthner, C. Thalacker, S. Diele, C. Thalacker. Chem. Eur. J. 7, 10, 2245 (2001)
  11. J. Taborski, P. Vaterlein, U. Zimmermann, E. Umbach. J. Electr. Spec. Rel. Phen. 75, 129 (1995)
  12. A.S. Komolov, P.J. M ller, J. Mortensen, S.A. Komolov, E.F. Lazneva. Appl. Surf. Sci. 253, 7376 (2007)
  13. А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, Н.Б. Герасимова, Ю.А. Панина, А.В. Барамыгин, А.Д. Овсянников. ФТТ 57, 1445 (2015)
  14. А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, Н.Б. Герасимова, Ю.А. Панина, А.В. Барамыгин, Г.Д. Зашихин, С.А. Пшеничнюк. ФТТ 58, 367 (2016)
  15. A.S. Komolov, E.F. Lazneva, S.N. Akhremtchik, N.S. Chepilko, A.A. Gavrikov. J. Phys. Chem. C 117, 24, 12 633 (2013)
  16. D. Bodlaki, H. Yamamoto, D.H. Waldeck, E. Borguet. Surf. Sci. 543, 63 (2003)
  17. J.F. Moulder, W.F. Stickle, P.E. Sobol, K. Bomben. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscope. 2nd ed. / Ed. J. Chastain. Eden Prairie: Perkin-Elmer Corporation (Physical Electronics) (1992)
  18. S. Heutz, A.J. Ferguson, G. Rumbles, T.S. Jones. Organic Electr. 3, 119 (2002)
  19. A.S. Komolov, E.F. Lazneva, S.N. Akhremtchik. App. Surf. Sci. 256, 2419 (2010)
  20. С.А. Пшеничнюк, А.В. Кухто, И.Н. Кухто, А.С. Комолов. ЖТФ 81, 6, 8 (2011)
  21. I. Bartos. Progr. Surf. Sci. 59, 197 (1998)
  22. S.A. Pshenichnyuk, A.S. Komolov. J. Phys. Chem. A 116, 1, 761 (2012)
  23. I.G. Hill, J. Schwartz, A. Kahn. Organic Electr. 1, 5 (2000)
  24. A.S. Komolov, P.J. M ller, Y.G. Aliaev, S.N. Akhremtchik, K. Schaumburg. J. Mol. Struct. 744- 747, 145 (2005)
  25. L. Grzadziel, M. Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, J. Szuber. Organic Electron. 13, 10, 1873 (2012)
  26. S. Braun, W. Salaneck, M. Fahlman. Adv. Mater. 21, 1450 (2009).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.